最小ピッチ30μmマトリクスの実績!狭ピッチプローブ設定が可能な半導体検査治具
『プローブカード』は、半導体検査工程でLSI(半導体集積回路)製造の ウエハーテスト工程で、シリコンウエハー上に形成されたLSIチップの 電気的検査に用いる治具です。 ワイヤープローブを使用することでプローブを垂直に立てることが可能。 より自由なプローブ配置が行えます。 また、垂直に検査対象物と接触することで、従来型のカンチレバー タイプのプローブに比べ検査キズ(打痕)の大幅な改善が期待できます。 【特長】 ■垂直コンタクト ■ピン間ピッチ ■多ピン設定、多面同測 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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コーヨーテクノスは、創業以来、先鋭検査装置の心臓部ともいえる、プリント基板、半導体パッケージなどの検査冶具をはじめ、インサーキットテスター、ファンクションテスター冶具の製造を手掛けてきました。 ますます多機能化、高密度化、高性能化、超小型化へとマーケットのニーズが高まる中で、先進テクノロジーに 裏打ちされた当社の製品群は、あらゆる先進分野で、常に揺るぎない評価をいただいています。 時代の先を捉える先見力でユーザーの要求に的確にお応えすること。 それが、コーヨーテクノスの一貫したテーマであり、他社の追随を許さないミクロン精度の技術力が、マーケットの厚い信頼を生んでいます。