光源ごとに色彩比較ができる標準光源装置
光源ごとに色彩比較ができる標準光源装置
光源ごとに色彩比較ができる標準光源装置 物の色は光源の種類により見え方が変わります。光源によって色の状態がどのように見えるか、本来の色は何か、基準の色との誤差がどのくらいか、などしき再評価の方法も多様化し、いろいろな光源における検討も必要となっています。このような時代のニーズに応えるために開発されたのが、いろいろな光源を内蔵した標準光源装置です。
- 企業:セリック株式会社
- 価格:未設定
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光源ごとに色彩比較ができる標準光源装置
光源ごとに色彩比較ができる標準光源装置 物の色は光源の種類により見え方が変わります。光源によって色の状態がどのように見えるか、本来の色は何か、基準の色との誤差がどのくらいか、などしき再評価の方法も多様化し、いろいろな光源における検討も必要となっています。このような時代のニーズに応えるために開発されたのが、いろいろな光源を内蔵した標準光源装置です。
光源ごとに色彩比較ができる標準光源装置
物の色は光源の種類により見え方が変わります。 光源によって色の状態がどのように見えるか、本来の色は何か、基準の色との誤差がどのくらいか、など色彩評価の方法も多様化し、いろいろな光源における検討も必要となっています。 このような時代のニーズに応えるために開発されたのが、いろいろな光源を内蔵した標準光源装置です。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
半導体の性能試験(検査)をする際に使用する光源装置。
CCDやCMOS形のイメージセンサ、エリアセンサ、リニアセンサ、 近赤外線センサなどの半導体の性能試験(検査)をする際に使用する光源装置です。 光源装置は、半導体製造前工程テスト(ウェハの電気的特性試験)や、 後工程テスト(パッケージの電気的機能試験)、R&D評価試験などで、 テストシステム装置と接続して使用されます。 各種テストシステムと接続が可能で、300mmウェハ対応、低照度対応、 色温度管理に優れています。 【特長】 ■半導体の性能試験(検査)をする際に使用する光源装置 →CCDやCMOS形イメージセンサ・エリアセンサ・リニアセンサ・近赤外線センサなど ■テストシステム装置と接続して使用 →半導体製造前工程テスト(ウェハの電気的特性試験) →後工程テスト(パッケージの電気的機能試験) →R&D評価試験など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
エックスライト社の色評価用標準光源装置
【ラインナップ】 ■SpectraLight QC(スペクトラライト・キューシー、SPL QC) ・CIE昼光イルミナントに最も近似したプロフェッショナル用標準光源 ■Judge LED(ジャッジ・エルイーディー) ・高速、高信頼性のLED標準光源(2025年1月新発売) ・7種類の光源を搭載 ※サカタインクス株式会社コーポレートサイトからお気軽にお問い合わせください。 ※カタログは弊社コーポレートサイトからダウンロードしていただけます。