欠陥測定器×日本セミラボ株式会社 - メーカー・企業と製品の一覧

結晶欠陥測定装置　(光散乱断層撮影式)

結晶欠陥測定装置　(光散乱断層撮影式)

シリコンウェハーの結晶欠陥が高速測定可能。

• 企業：日本セミラボ株式会社 新横浜本社
• 価格：応相談

• 半導体検査/試験装置
• その他電子計測器
• 分析機器・装置