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断熱材からセラミックス，金属等の固体，液体，粉体，ペースト類試料等の熱伝導率、熱拡散率の測定及び単位体積あたりの比熱容量を算出。
TPS 2500 /TPS 1500/TPS 500 S/TPS 500 ホットディスク法熱物性測定装置は、スウェーデンHot Disk AB(以下、Hot Disk社)製で、熱伝導率、熱拡散率を短時間に測定できる熱物性測定器です。 等方性の断熱材、樹脂、セラミックス、金属、練り物、液体等の熱伝導率および熱拡散率が測定でき、さらにこれらの測定値により単位体積あたりの比熱容量を算出します。新素材の研究開発、各種材料の応用や用途開発、製品の性能評価や品質管理に幅広く用いられています。 また、オプションの測定モジュールを用いることにより、異方性のある材料、高熱伝導率薄板材料およびフィルム・シート状材料および比熱測定ができます。
広い温度範囲にわたって測定可能！優れた正確度と精度を備えた熱物性測定装置
『DLF』は、広い温度範囲にわたって熱拡散率を測定できるレーザーフラッシュ法 熱物性測定装置で、幅広い熱特性を持つ材料の比熱容量と熱伝導率を測定します。 すべてのシステムには、生産性が数倍向上し、比熱容量測定が改善した、 多検体試験機能が含まれます。モジュラー構造で柔軟性が高いため、 ニーズの変化に合わせて他の環境モジュールや光源モジュールを追加可能です。 当社では、1200℃までの検体の測定が可能な卓上型の「DLF 1200」や、 1600°Cまでの検体の測定が可能な自立型の「DLF 1600」などをご用意しております。 【特長】 ■広い温度範囲での測定が可能 ■高い正確度と精度 ■操作が簡単 ■ルス幅300μs～400μsのコリメート式単色エネルギーパルスを発生
ナノメートルオーダーの薄膜の熱物性測定が可能な唯一の装置
薄膜熱物性測定装置NanoTR･PicoTRは、金属薄膜や酸化物薄膜、有機薄膜などの熱物性値を高精度に測定する世界初の薄膜熱物性測定装置です。 【特長】 ■厚さ数10nm～数μmの薄膜の熱拡散率や熱浸透率、界面熱抵抗の測定が可能 ■RF方式とFF方式の両方の方式を搭載しており、基盤の種類を問わず測定可能 ■SIトレーサブルな装置で、JIS R 1689 JIS R 1690に準拠 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
