更新日： 集計期間:2025年05月21日～2025年06月17日
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ピッキングのワーク位置検出と形状のチェックが可能！生産設備向けの画像処理装置
『FA-Sticker ビジョンセンサー』は、ロボットのピッキング用位置決めや ワークの欠損を検出する画像処理装置です。 1台の装置で、ピッキングのワーク位置検出と形状のチェックの2つの利用が 可能です。 また、当社では「ビジョンセンサー導入支援サービス」も承っております。 【特長】 ■ピッキングのワーク位置検出 ■形状のチェック ■ピッキングや外観検査に使用可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
オンリーワンのオーダーメイドマシンをご提供。
お客様の製造・検査その他工程をはじめとするさまざまな省力化対策や改善案を、的確・スピーディーに設計・製作してオートメーション設備の形でお答えいたします。
寸法精度や各種測定をはじめ、得られたデータの分析・蓄積まで可能！無料相談お受けします
当製品は、製品の外観に見られる各種不良を検出し、分別する装置です。 製品検査の視覚的な判断はもちろん、寸法精度や各種測定をはじめ、 得られたデータの分析・蓄積まで可能。 単独動作する装置からインラインで前後工程と同期する装置まで、 多様な検査装置を製作してきました。当社は特に食品容器の外観検査装置、 および供給・搬送・箱詰めといった周辺装置を得意としており、 一連の工程を一貫した設計の基に製作いたします。 【特長】 ■製品の外観に見られる各種不良を検出、分別 ■製品検査の視覚的な判断が可能 ■一連の工程を一貫した設計の基に製作 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
購入後も機能の変更や追加に対応！超高精細画像処理向け低遅延画像処理機器
『IPFC』は、多機能向け高性能機器開発用「HPFC」を画像処理に 特化させることで、低コストを実現した超高精細画像処理向け 低遅延画像処理機器です。 FPGAの特長である柔軟性とベクトロジーの長年にわたって蓄積した 技術ポートフォリオを生かし、コネクター配置、各種フォーマット変換や ストレージ対応等、ユーザーの使用用途に応じてカスタマイズに対応。 また、FPGAを採用した利点として購入後も機能の変更や追加なども 対応いたします。 【特長】 ■ユーザーの使用用途に応じてカスタマイズに対応 ■超高精細画像処理のリアルタイム化を低コストで実現 ■購入後も機能の変更や追加などに対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
FA向けの汎用画像処理装置
『Blue Finder Neo HV-U55318』は、用途別に多種多様な種類が 存在するUSB2.0、USB3.0、GigEカメラ群から目的に適合するカメラを 組み合わせたマシンビジョンを構築するためのプラットフォームです。 コストパフォーマンス重視、精度重視などアプリケーションに 求められるさまざまな要件に対してベストフィットする ビジョンシステムが構成可能。 産業設備へのインライン実装を前提としたコンパクト筐体に FA画像処理に求められる全ての機能を搭載しています。 【機能】 ■オンデマンドプログラミング ■充実の画像処理モジュール ■高い対環境性能 ■超簡単上位コントローラー連携 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。
従来装置より小型化・低価格化を実現！Aスコープメモリ機能搭載により、収録後の解析が可能です
『GSCAN Light』は、X-Y軸を有する機械を用いて水浸超音波探傷を行い、 その信号から平面図描画（Cスコープ）等を描画する装置です。 また、Aスコープメモリ機能搭載により、収録後の解析が可能。 従来装置より小型化・低価格化を実現しました。 【特長】 ■高性能位置決め制御が可能（軸分解能0.1mm） ■パルサーレシーバがUSBに対応、ノートPCより電源供給 ■機構部が軽量のため、持ち運びが容易 ■AスコープメモリやBスコープ描写が標準装備、データ保存も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
検査材の全波形データを高速収録し画像化処理する装置をご紹介します！
『UI-27 ABC UT III』は、超音波を用いて検査材内部を非破壊検査し 検査データ（全波形データ）を画像化処理する装置です。 溶接部や接合部の評価、介在物やボイド、クラックの検出、複合材の 構造物解析などを行うことが可能。4軸制御を行いX-Y軸平面スキャン、 θ(回転) -Zスキャンによる円筒検査材の画像化を行うことができます。 また、操作パネル(GOT)により機器操作を行い、基本設定、画像結果の 表示・解析はPC画面上で行います。 【特長】 ■全波形データを保存している為再ゲート設定等の表示条件の変更が 発生しても再スキャンすることなく、再画像化処理が可能 ■再画像結果から波形の確認、解析などが素早く簡単にできる ■同一画面上にA B Cスコープ及びEHモニターを表示することで、 画像結果の解析が容易にできる ■画像結果の解析に用いる豊富なオプション機能が準備されている ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
