更新日： 集計期間:2025年11月19日～2025年12月16日
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環境保護と安全性にも配慮した精密部品加工に最適です。 強力な接着力を有しながら、超短時間剥離を実現しました。
【特徴】 Kシリーズ 精密部品加工用 ■超低粘性で優れた濡れ性を示し、μmオーダーの精密な作業ができます。 ■薄膜で強固に接着し、コート面の加工傷防止やチッピング防止に効果があります。 ■熱水またはエタノール水溶液浸漬で剥離できます。 CPシリーズ 大型部品加工用 ■ワックス以上の接着力を持つので、様々な加工の仮固定に適用できます。 ■熱水浸漬で分単位剥離できるので、作業時間の大幅な短縮が可能です。 ■仮着層がフィルム状に分離し剥離するので、後処理も簡単です。 ※詳しくは、お問い合わせください。
直感的でわかりやすい、やっぱりいいね”アナログメーター”
■ダイヤルカバー標準装備 ●テスト用ゼロ板 (100×50×5(t)mm、材質：SS400)も標準付属 ■用途 鉄素地※上の塗装、ライニングなどの絶縁性皮膜やメッキなど非磁性金属皮膜の膜厚を比破壊する電磁式膜厚計です。 国内の各公団、団体、官公庁、研究所、各種法人などの規格、内規、基準ならびにASTM、ISOなどの海外規格にも適合する2点調整方法を採用しています。 ※鋼・フェライト系ステンレス(SUS430など)を含む ●塗装(橋梁・船舶・鋼管などの鉄鋼構造物、自動車、家電製品 [冷蔵庫、洗濯機]、スチール家具、什器機類など) ●ライニング(樹脂・アールエポキシ・ゴム・ホーローなど) ●メッキ※(クローム・亜鉛・銅・スズなどの非磁性メッキなど) ※電解ニッケル、メッキを除く ●メタリコン・パー化ライジング・酸化膜・溶射膜など ●樹脂フィルム・非磁性金属箔の厚み測定 (鉄を基板として測定)
プローブ内蔵式、コード式、交換式の3種類
●デジタル信号処理SIDSPプローブに接続可能。干渉を受けることなく、卓越した測定精度を提供します。温度に変化が生じた場合でも測定に影響を与えることなく測定値を安定させ、測定範囲全体を通じてきわめて良好な繰り返し性を保証します。 ●標準プローブの広範なラインナップに加え、特に困難な用途に対応する多様な特殊プローブをラインナップしています。 •FN2.6プローブ 特に自動車ボディの上からの測定に適しており、形状や母材の違いによる影響をほとんど受けません。 •ミニチュアプローブ 薄膜や極小面積の上からの測定や溝・孔・凹部の測定に適しており、先端が0℃、45℃、90℃の角度に設計されています。
測定データはファイル保存ができ、あとから再解析も可能な非接触膜厚測定システム！
『FF8』は、サンプルの反射率（干渉波形）を測定し、 膜厚演算方法の中のFFT（フ－リエ変換膜厚計）や、 カーブフィット膜厚計等によって 膜厚値の解析を行う非接触膜厚測定システムです。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 オプションにより、多層膜・カーブフィット法・顕微鏡・マッピング測定・ 色測定・成分濃度解析も可能です。 【標準測定】 測定範囲（分解能） 対応仕様例 0.0010～100μｍ 薄膜＋薄膜解析仕様 0.0100～100μm 標準＋薄膜解析仕様 0.5000～500μm 標準仕様 1.000 ～500μm 圧膜1仕様 4.000 ～2000μm 圧膜2仕様 ※その他、各種測定範囲にオプションで対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
薄膜から厚膜まで高精度に測定が可能な顕微分光膜厚計『OPTM』
反射率スペクトルは、同種材質の膜であっても、膜厚値の違いにより図のような異なる波形になります。 膜厚が薄い場合、図左側のようなスペクトルを示し、より厚くなると図中央から右側のようなスペクトルへと変化します。 これは光干渉現象によるものです。 大塚電子の膜厚計では高精度で高い波長分解能を持つ分光計測が可能で、正確に絶対反射率スペクトルを求めることができます。 これにより材質の持っている光学定数（n：屈折率、k：消衰係数）の解析も可能になります。
お持ちの顕微鏡とドッキングも可能！顕微鏡膜測定と２D分光放射オプションとの組み合わせで詳細な面内の膜厚分布の測定も可能です。
『FF8』は、サンプルの反射率（干渉波形）を測定し、 膜厚演算方法の中のFFT（フ－リエ変換膜厚計）や、 カーブフィット膜厚計等によって 膜厚値の解析を行う非接触多ポイント膜厚測定が可能です。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 オプションにより、多層膜・カーブフィット法・顕微鏡・マッピング測定・ 色測定・成分濃度解析も可能です。 オプションでは、顕微鏡膜測定や非透過サンプル膜厚測定も可能です。 顕微鏡膜測定では、カラーフィルターのRGBパターンや基板上の配線パターン等、 マクロでは測定が困難な微細領域の膜厚測定を行えるように、 顕微鏡を使用して測定スポットサイズを小さくし測定できるようにします。 非透過サンプル測定では、空気層の厚みを測定することで 非透過サンプルの厚みを測定、演算します。 通常、光の干渉を用いる測定方式では、 非透過サンプルの膜厚測定はできませんが、 本測定方式を用いることで測定が可能となります。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
