測定データはファイル保存ができ、あとから再解析も可能な非接触膜厚測定システム！
『FF8』は、サンプルの反射率（干渉波形）を測定し、 膜厚演算方法の中のFFT（フ－リエ変換膜厚計）や、 カーブフィット膜厚計等によって 膜厚値の解析を行う非接触膜厚測定システムです。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 オプションにより、多層膜・カーブフィット法・顕微鏡・マッピング測定・ 色測定・成分濃度解析も可能です。 【標準測定】 測定範囲（分解能） 対応仕様例 0.0010～100μｍ 薄膜＋薄膜解析仕様 0.0100～100μm 標準＋薄膜解析仕様 0.5000～500μm 標準仕様 1.000 ～500μm 圧膜1仕様 4.000 ～2000μm 圧膜2仕様 ※その他、各種測定範囲にオプションで対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
この製品へのお問い合わせ
基本情報
【オプション構成例】 ■多層解析：2～10層までの解析も可能 ■薄膜解析（カーブフィット法）：カーブフィット解析により薄い膜を解析 ■色度解析：反射・透過で色度解析を行う ■成分濃度解析：お客様自身で任意の膜成分を測定・登録することにより、多成分解析が可能 ■顕微鏡オプション ■自動マッピングオプション ■多ポイント同時測定オプション（3CH用）
価格帯
納期
用途／実績例
【用途】 ■膜厚測定 ■フィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
カタログ（1）
カタログをまとめてダウンロード
企業情報
これからは多岐にわたってさまざまな分野の技術が、いろいろなところで活かされることが求められると考えております。 そのためにシステムロードは研究、開発、生産の分野においてさまざまなシーンにお応え出来るよう努力してまいります。 光・エレクトロニクス・メカトロニクス・ソフトウェアを融合させて「照明」・「素材」・「医薬」を軸に幅広い研究、開発、生産の分野に貢献していきたいと思っております。