薄膜測定システム 分光放射照度測定をはじめ、多様なアプリケーションにお応え致します ■ 物質、屈折率、消衰係数を入力するだけで、簡単に膜厚測定が可能 ■ 膜厚範囲：10nm〜 ■ 真空チャンバー中でのモニタリングも可能 ■ 測定項目の径時変化測定により、コーティング過程モニタリングが可能 企業：有限会社ミロクロ 価格：応相談 その他理化学機器光学測定器分析機器・装置 ブックマークに追加いたしました ブックマーク一覧 ブックマークを削除いたしました ブックマーク一覧 これ以上ブックマークできません 会員登録すると、ブックマークできる件数が増えて、ラベルをつけて整理することもできます 無料会員登録
