低価格 光学式薄膜測定装置
反射分光法とカーブフィット法を組み合わせた、光学式薄膜測定装置。
反射分光法とカーブフィット法を組み合わせた光学式薄膜測定装置 ■□■特徴■□■ ■透明または半透明な薄膜の表面と基板との界面からの反射を 解析することにより、数秒で解析が簡単に行える ■膜厚の他、光学定数の測定もこの１台で行えるので、 オリジナル材料の登録が可能であり、ユーザーの使用用途に沿った 運用ができる ■パワフルでシンプルな低価格システム ■詳細については、カタログダウンロードもしくはお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社レスター システムビジネスユニット
- 価格：応相談
