TOF-SIMSによる表面分析
TOF-SIMSは軽元素、無機物から分子量の大きい有機物まで分析可能です。
■TOF-SIMS 3つの分析モード ・高分解能質量スペクトル ・深さ方向分析 ・表面の面分析
- 企業:株式会社アイテス
- 価格:応相談
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TOF-SIMSは軽元素、無機物から分子量の大きい有機物まで分析可能です。
■TOF-SIMS 3つの分析モード ・高分解能質量スペクトル ・深さ方向分析 ・表面の面分析
表面分析を基礎から学びたい方向きの講座です。 TOF-SIMS、RBS、 XPSについて、原理・スペクトル例を解説しています。
表面分析を基礎から学びたい方向きの講座です。受講期間中、本講座に関する質問を受け付けております。 以下について、易しく、コンパクトに解説しています。 表面分析について TOF-SIMS:飛行時間型2次イオン質量分析法(原理、スペクトル例) RBS:ラザフォード後方散乱分析法(原理、スペクトル例) XPS:X線光電子分光法(原理、スペクトル例) 測定事例:有機EL素子 受講特典として「講座内容に対する質問回答サービス」がついており、「分析手法の原理について、理解を深めたい」、「測定事例について、不明な点があるので詳しく説明して欲しい」など、動画形式の講義ではお伝えするのが難しい事項について、分析の専門家が回答いたします。 ◎お申し込みのお手続きの詳細はこちらです。 https://www.toray-research.co.jp/service/seminar/online/
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【講 師】第1部:東レ・デュポン(株) カプトン技術・開発部 開発課 石川 裕規 氏 第2部:(株)東レリサーチセンター 表面科学研究部 表面解析研究室 室長 中川 善嗣 氏 【会 場】川崎市教育文化会館 第2学習室【神奈川・川崎】 【日 時】平成22年12月16日(木) 13:00~16:15 詳細確認またはお申込をご検討されている方はURLをご利用ください ⇒ http://ec.techzone.jp/products/detail.php?product_id=1265