1～4 件を表示 ／ 全 4 件
フィルムの微小歪をインラインで高精度に計測！10μmの微小歪を幅400mmの広範囲にわたり一度に計測できます！
面歪スキャニングセンサ『LINE STRIPER FV』は、 フィルムの微小歪をインラインで高精度に計測できます！ 独自に開発したMR法(Mesh Reflection)にて歪を計測し、 対象物にスリット照明を映し込み、照明の歪み量から曲率を算出します。 本手法は、AFM(原子間力顕微鏡)などで使用されている、 光てこの原理で歪を増幅して計測するため、 パターン投影型の3D計測機に比べ高精度に計測／測定が可能です。 【特長】 ■高感度 一般的な3D計測機では測定困難な数μmの微小歪を計測することが可能 ■広範囲 幅400mmの広範囲をインラインで連続計測が可能 ■可視化 計測結果は曲率カラーコンター図で表示されますので、 微小歪部が一目瞭然！ ※詳しくはPDFをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
国内50社様以上でご愛用いただいているFTA/FMEAツールが更に機能アップ！
『FTAStudio』は、FMEA 表・FT図の作成、レポート出力等、幅広く FTA/FMEAをサポートするアプリケーションです。 ノードの移動や追加でツリーが変更されると直ちにレイアウトを再計算し、 最適な形状に配置。数千のノードを入力しても、さくさくと操作すること ができます。 また、最小カットセットに基づいて、全てのノードの確率を自動計算します。 【特長】 ■高度なレイアウトアルゴリズムで高速描画 ■確率を自動計算 ■強力な印刷機能 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
200万個以上の粒子を学習済の高精度AIモデル搭載！二値化で解析困難な場合がある粒子・粉体の精密解析が可能な画像解析ソフトウェア
粒子・粉体AI画像解析ソフト『AIPAS（アイパス）』は、Deep Learningを用いることで 二値化処理では解析困難な場合がある粒子・粉体画像について、個別粒子・粉体の高精度な 検出・分類、正確な計測を実現したオフラインソフトウェアです。 電子顕微鏡画像や、密集粒子の画像データ解析・計測でお困りの方は 是非一度、本ソフトウェアで業務課題解決をご検討ください。 【特長】 ■200万個以上/40種類以上の粒子を学習したAIモデル搭載 ■解析困難な凝集粒子、グレイン、焼結体なども解析可能 ■ユーザー様で追加学習を行う機能も追加 ■SEM、TEM、S-TEM、AFMの画像に対応 ※初回デモは無償で承ります（枚数制限なし） ※2025年5月1日～2026年3月31日までのお申込み分に限り AIPASのAIモデルを複数搭載したソフトウェアを初回1度のみ1か月間198,000円でご提供！ 解析回数・対象画像枚数に制限はなく、1か月間使い放題でお試し可能です！ ※本ソフトウェアの詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
あなたの要望を機能として実装する計測システム！幅広い業務に対応可能
これまで、データ収録機器に付属のソフトウェアをお使いで、その機能、 性能に物足りなさをお感じになられた事はありませんか？ 本システムは、コストを抑えて解析結果出力を幅広い業務に対応可能な 計測・解析ソフトウェアです。 ※報告書形式をユーザーさまの依頼に沿ったレイアウトに出力させる事も 可能です。 【特徴】 ◆測定データのリアルタイム表示（選択チャンネルの表示）。 ◆保存測定結果の表示・ファイル出力（Taffmat形式、CSV形式など）。 ◆測定条件の設定・テンプレート登録が可能 （１テスト当たりの最大測定条件無制限 保存容量による。） ◆測定データの波形表示。 ◆測定データのうちノイズと思われるデータ値の除外設定が可能。 ♦欲しい解析機能を追加可能 ※デモ機にてのご案内も賜ります。 詳細は、『資料請求』または『ダウンロード』からお問合せ下さい。
