NVMe調査・解析テスタ
エラーの有無だけでは分からない潜在的なパフォーマンスの違いを検出することが可能！
当社では、製品組み込み用ストレージの評価、受入後のスクリーニングテスト、 フィールド戻入後のチェック等に適した『NVMe調査・解析テスタ』を 取り扱っております。 簡易スクリプトプログラム作成によりNVMeデバイスに対して試験コマンドを 任意のシーケンス、時間、回数で実行可能。 また、当社独自開発のアクセスパターンによるリード・ライト試験が可能で、 実アプリに近い評価が実行できます。 【特長】 ■NVMeデバイスがサポートしているSCSIコマンドの発行が可能 ■SMART値の読み込み、TRIM試験が可能(現状Intel社製デバイスに限る) ■OSはROM化されており、システムの安定性が向上 ■ログは内部ストレージへ書き出し ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：三映電子工業株式会社
- 価格：応相談
