エラーの有無だけでは分からない潜在的なパフォーマンスの違いを検出することが可能！
当社では、製品組み込み用ストレージの評価、受入後のスクリーニングテスト、 フィールド戻入後のチェック等に適した『NVMe調査・解析テスタ』を 取り扱っております。 簡易スクリプトプログラム作成によりNVMeデバイスに対して試験コマンドを 任意のシーケンス、時間、回数で実行可能。 また、当社独自開発のアクセスパターンによるリード・ライト試験が可能で、 実アプリに近い評価が実行できます。 【特長】 ■NVMeデバイスがサポートしているSCSIコマンドの発行が可能 ■SMART値の読み込み、TRIM試験が可能(現状Intel社製デバイスに限る) ■OSはROM化されており、システムの安定性が向上 ■ログは内部ストレージへ書き出し ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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企業情報
ＨＤＤに限らず、トラブルの発生をなくすためには、真の原因究明が大切です。 現象は分かっても、真の原因がわからないというケースが大半です。当社では、トラブル発生時に、ＨＤＤの障害解析を行い、真の原因を把握し、製品設計、製造工程、流通などにフィードバック。ＨＤＤトラブルの真の原因究明を、より効率よく正確に行うシステムとノウハウを保有しています。 ＨＤＤトラブルは、今後も増加する傾向にあるでしょう。 いち早く、ＨＤＤトラブルを解決し、トータルコストの低減と顧客の信頼獲得のために、私たちに、一度ご相談ください。
