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大電流・高圧測定、高速・パラレル測定にも対応！柔軟で多様なシステム構成が可能です
『431-TT』は、パワーデバイス測定のノウハウを継承し、かつ V/Iソース測定モジュールを採用した新しいコンセプトのDCテスタです。 オープンなアーキテクチャーとなっており柔軟で多様なシステム構成が可能。 大電流・高圧測定、高速・パラレル測定にも対応し、オペレーション画面上 での波形モニタなどのメンテナンス機能も兼ね備えています。 【特長】 ■VI ソースメジャモジュール構成 ■本体で1.2KV/130A（最大2.2KV/200A）まで測定可能 ■高速測定 ■マルチデバイステスト（2in1デバイスなど2DUT同測） ■ウェハパラレルテスト（2チップの同測） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
複数チップ同時測定によりコストパフォーマンス向上！2KV/20Aの測定が可能です
『471-TT』は、LANを採用することで、データ通信時間の大幅短縮を 実現したDCテスタです。 長年蓄積してきた測定技術を活用することにより、ウェハ測定工程における 複数チップ同時測定を実現。 当社の強みである高電圧・大電流測定技術も継承。複数チップを同時測定処理 することにより従来テスタに比べ大幅な生産性の向上を図ることができます。 【特長】 ■複数チップ同時測定(8パラレル/16パラレル)によるコストパフォーマンスの 向上 ■LANを採用することで、データ通信時間の大幅短縮を実現 ■リレー切換の高速化により、測定時間の短縮を実現 ■当社の測定技術を生かし、パラレル測定においても安定した測定を実現 （Max 2kV/20A） ■電圧/電流制限設定が可能なため、プローブピンへの負荷を軽減が可能 ■あらかじめ設定された印加可能最大電流値（プローバチャックの電流容量値） 以下となるように、同時に測定するチップ数を自動で分割設定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
