複数チップ同時測定によりコストパフォーマンス向上！2KV/20Aの測定が可能です
『471-TT』は、LANを採用することで、データ通信時間の大幅短縮を 実現したDCテスタです。 長年蓄積してきた測定技術を活用することにより、ウェハ測定工程における 複数チップ同時測定を実現。 当社の強みである高電圧・大電流測定技術も継承。複数チップを同時測定処理 することにより従来テスタに比べ大幅な生産性の向上を図ることができます。 【特長】 ■複数チップ同時測定(8パラレル/16パラレル)によるコストパフォーマンスの 向上 ■LANを採用することで、データ通信時間の大幅短縮を実現 ■リレー切換の高速化により、測定時間の短縮を実現 ■当社の測定技術を生かし、パラレル測定においても安定した測定を実現 （Max 2kV/20A） ■電圧/電流制限設定が可能なため、プローブピンへの負荷を軽減が可能 ■あらかじめ設定された印加可能最大電流値（プローバチャックの電流容量値） 以下となるように、同時に測定するチップ数を自動で分割設定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【仕様】 ■Applicable Devices：Tr、FET、IGBT、Diode etc. ■Polarity：NPN / PNP、N/P Channel ■Voltage：2kV ■Current：20A ■Parallel Test ・471-TT/S：8 ・471-TT/D：16 (Photo) ■Test Stations：1 Station ■Test Item：500 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
株式会社テセックは、半導体検査装置であるハンドラ、テスタおよびパーツ等の開発・製造・販売を行っている企業です。創業以来培ってきた測定技術により、ハンドラ、テスタを核とし、半導体製品の高品質・高性能を担保する一翼を担い、省エネルギー、低炭素化社会の要求において、低消費電力、高効率電力変換に重要なパワーデバイスの測定で、リーディングカンパニーとして世界に貢献し「TESEC ブランド」を確立してまいりました。また、複雑な測定環境における正確な測定技術と独創的な測定方式により、大幅な生産効率の向上を可能にしたMAP (Matrix Alley Package)System、Strip Test Systemをはじめとした高付加価値の検査装置の提案を行い、高い評価もいただいております。