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走査顕微鏡 - メーカー・企業と製品の一覧

走査顕微鏡の製品一覧

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比類なき高視野・高分解能な干渉型3Dレーザー走査顕微鏡

他に比類なき高視野・高分解能を実現した、干渉型3Dレーザー走査顕微鏡(視野域:30x50mm・分解能:50nm)

レーザ走査を用いた初めての干渉計測  光沢紙程度の反射で干渉縞が出現。干渉縞で50nmの変化をとらえます ●倒立型レーザ走査干渉計(型番:LSMi-7000)   サンプルをガラス面に置けば、簡単に干渉縞計測可能。   走査範囲は30mm×50mm、モニター上で拡大観察可能   セラミックスなどの細い傷、研磨不良、欠けなどが検査可能   干渉縞解析ソフトはオプション ●円筒用レーザ走査干渉計(型番:LSMi-7500)   円筒の全面で干渉縞を観察可能、円筒の精密検査が可能 ●正立型レーザ走査干渉計(型番:LSMi-8000)   非接触で微細な干渉縞計測可能。   交換レンズは、5mm、10mm、26mm走査レンズ、特注可能   通常の共焦点レーザ走査イメージャとしても使用できます これらを応用展開した機器 超広視野共焦点型・高分解能1μm 3D‐レーザ走査イメージャ 5×50mmの範囲を3D形状計測できる ●45度までの傾斜があるものの形状測定が可能です ●キズや深い穴の欠陥も検出可能です ●円筒面の形状計測や画像取得も可能です   

  • レーザー顕微鏡

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電界放出型走査顕微鏡『FE-SEM』

EDXが装着されており、試料観察と同時に元素の種類・量・分布状態を調べることが可能です!

『FE-SEM』は、電子線を絞り細い電子線を試料に照射し、表面を観察する 電界放出型走査顕微鏡です。 超高分解能観察が可能。汎用SEMと同様に電子線を絞り電子ビームとして 対象に照射し、対象物の表面から放出される二次電子や反射電子を検出 することで、対象の表面の観察を実施。 また、JSM-7100Fでは、EDS及びEBSD解析装置が装着されているため、 高分解能の観察だけでなく元素分析や結晶性試料の方位解析(EBSD解析)が できます。 【特長】 ■サブミクロンオーダーでの観察が可能 ・汎用SEMより高倍率で形態観察が可能で、より鮮明な像を取得可能 ■EDX(エネルギー分散型分析装置)による定性分析 ・EDXが装着されており、試料観察と同時に元素の種類・量・分布状態を  調べることが可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • FE-SEM 画像4.jpg
  • FE-SEM 画像5.jpg
  • その他顕微鏡・マイクロスコープ

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