他に比類なき高視野・高分解能を実現した、干渉型3Dレーザー走査顕微鏡(視野域:30x50mm・分解能:50nm)
レーザ走査を用いた初めての干渉計測 光沢紙程度の反射で干渉縞が出現。干渉縞で50nmの変化をとらえます ●倒立型レーザ走査干渉計(型番:LSMi-7000) サンプルをガラス面に置けば、簡単に干渉縞計測可能。 走査範囲は30mm×50mm、モニター上で拡大観察可能 セラミックスなどの細い傷、研磨不良、欠けなどが検査可能 干渉縞解析ソフトはオプション ●円筒用レーザ走査干渉計(型番:LSMi-7500) 円筒の全面で干渉縞を観察可能、円筒の精密検査が可能 ●正立型レーザ走査干渉計(型番:LSMi-8000) 非接触で微細な干渉縞計測可能。 交換レンズは、5mm、10mm、26mm走査レンズ、特注可能 通常の共焦点レーザ走査イメージャとしても使用できます これらを応用展開した機器 超広視野共焦点型・高分解能1μm 3D‐レーザ走査イメージャ 5×50mmの範囲を3D形状計測できる ●45度までの傾斜があるものの形状測定が可能です ●キズや深い穴の欠陥も検出可能です ●円筒面の形状計測や画像取得も可能です
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基本情報
レーザ走査を用いた初めての干渉計測 光沢紙程度の反射で干渉縞が出現。干渉縞で50nmの変化をとらえます ●倒立型レーザ走査干渉計(型番:LSMi-7000) サンプルをガラス面に置けば、簡単に干渉縞計測可能。 走査範囲は30mm×50mm、モニター上で拡大観察可能 セラミックスなどの細い傷、研磨不良、欠けなどが検査可能 干渉縞解析ソフトはオプション ●円筒用レーザ走査干渉計(型番:LSMi-7500) 円筒の全面で干渉縞を観察可能、円筒の精密検査が可能 ●正立型レーザ走査干渉計(型番:LSMi-8000) 非接触で微細な干渉縞計測可能。 交換レンズは、5mm、10mm、26mm走査レンズ、特注可能 通常の共焦点レーザ走査イメージャとしても使用できます これらを応用展開した機器 超広視野共焦点型・高分解能1μm 3D‐レーザ走査イメージャ 5×50mmの範囲を3D形状計測できる ●45度までの傾斜があるものの形状測定が可能です ●キズや深い穴の欠陥も検出可能です ●円筒面の形状計測や画像取得も可能です
価格情報
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価格帯
500万円 ~ 1000万円
納期
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用途/実績例
フィルム基材、セラミック基材 などの傷検査
カタログ(2)
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株式会社ワイ・ドライブは、プリンテッドエレクトロニクス技術を開発・追究する会社です。インクジェット工法、マイクロ・ナノ成型工法、印刷工法による電子デバイスの製作、微細2D・3D印刷配線/構造体製作(数μm以下スケールでの構造体製作)のほか、各種電子回路基板の開発も受託しております。各種画像処理ソフト(カメラ系・3Dセンサー系)、FPGA設計、電子制御系ソフトウェア開発、組込電子機器開発 等も受託しています。