PIND試験装置 微粒子衝撃雑音検出装置
デバイスの異物粒子を検出。一時間当たり2000部品以上の試験が可能。
オシロスコープの輝線上に表れるスパイクとしての視覚的な判別ができます。 スピーカーより音質変化による聴覚的な判別、調整された検出レベルの トリガーでのFAILランプの点灯による判別も可能です。 規格試験MIL－STD－883、MIL－STD－750、MIL－STD－220に適合します。 その他詳細は、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。
- 企業：エア・ブラウン株式会社 電子機器部
- 価格：応相談
