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PIND試験装置 微粒子衝撃雑音検出装置

最終更新日:2013年02月22日

エア・ブラウン株式会社 電子機器部
エア・ブラウン株式会社 電子機器部
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デバイスの異物粒子を検出。一時間当たり2000部品以上の試験が可能。

オシロスコープの輝線上に表れるスパイクとしての視覚的な判別ができます。 スピーカーより音質変化による聴覚的な判別、調整された検出レベルの トリガーでのFAILランプの点灯による判別も可能です。 規格試験MIL-STD-883、MIL-STD-750、MIL-STD-220に適合します。 その他詳細は、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。

    半導体検査/試験装置その他半導体製造装置試験機器・装置
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PIND試験装置 微粒子衝撃雑音検出装置

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  • 関連リンク - http://www.arbrown.com/em/products/pind/

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基本情報

【仕様】 ○振動 周波数:サイン波27~265Hz 加速度:0~20Gピーク 加振機:22.7kgf、19mmp-p、190cm/sec 増巾器:240W 最大搭載重量:20G ピーク時、200グラム ○衝撃 作用時間:サイン波100μsec以下 加速度:1000±200G、0~2000G調整 アプリケーション:オート or マニュアル 軸:振動と同じ ○検出器 ウルトラソニックトランスデューサー:感度-77.5±3dB 増巾器:60±2dB@155±5KHz 10mV ピークノイズ以下 閾値検出:2プリセット検出レベル 0~無限 ○コントローラー タイプ:デジタル多重送信型 連続衝撃:1~4回連続 16プログラム テスト時間:16プログラム オートスタート:9プログラム システムクロック:0.25~4Hz調整 ●詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせ下さい。

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