電子顕微鏡×株式会社魁半導体 - メーカー・企業と製品の一覧

電子顕微鏡での受託観察

走査型電子顕微鏡（ＦＥ-ＳＥＭ）による表面観察を受託いたします：分解能（感度等）：～２０万倍

■試料をお送り頂きますと、試料台作成～画像撮影～画像ファイル（jpeg）変換を行い、お送り致します。 ■格安料金を設定しておりますので、ぜひご利用下さい。

• 企業：株式会社魁半導体
• 価格：1万円 ~ 10万円

• 受託測定