走査型電子顕微鏡（ＦＥ-ＳＥＭ）による表面観察を受託いたします：分解能（感度等）：～２０万倍
■試料をお送り頂きますと、試料台作成～画像撮影～画像ファイル（jpeg）変換を行い、お送り致します。 ■格安料金を設定しておりますので、ぜひご利用下さい。
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基本情報
【主要設備】 ・設備（機械名）：走査型電子顕微鏡（FE-SEM） S-4000（日立） ・主な仕様 倍率： ×100～300,000倍 （～100,000までは保証範囲） 試料台サイズ： 15mm（径） 加速電圧： 0.5～30ｋV ・機器の概略：試料表面に電子線を照射することで、試料表面からの反射電子を検出することにより、試料表面の形状を観察 ・試料サイズの条件：最大試料サイズ： 15mm（径）×高さ10mm以下 ・対象試料の条件：高分子材料、金属、セラミックスなどの固体試料（他は要相談） ・試料の前処理：E-1010イオンスパッター（日立）により金蒸着を行います。 【注意事項】 ※試料に関する種類・注意事項等ございましたら、事前にお申しつけ願います。 ※高真空状態で撮影しますので、湿潤サンプルはお受けすることができません。
価格帯
1万円 ~ 10万円
納期
※お気軽にご相談下さい
用途／実績例
【観察例】 ■有機ポリマー ■細胞分析 ■各種半導体チップ ■各種粒子 ■各種金属表面 など
企業情報
魁半導体は2002年9月に京都工芸繊維大学発のベンチャー企業として設立。プラズマ技術を用いた表面改質装置や堆積装置の販売をおこなっている。2010年に発売した粉体プラズマ装置は高い技術力が評価され『関西フロントランナー大賞』『中小企業技術賞』を受賞する。 全国の大学・産総研・大手メーカー・R&D部門で多数導入実績有り。 実物(デモ機)に触れて頂いてからの販売を提案します。 また、レンタル・リースにより、お客様のご負担を軽減したご使用方法も提案致します。 半導体関連以外にも、色々な技術相談を承っております。 また、石英やパイレックスの加工・販売を小ロットから承っております。 半導体関連以外にも、色々な技術相談を承っております。 また、石英やパイレックスの加工・販売を小ロットから承っております。
