3次元X線CTシステムのメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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3次元X線CTシステム - メーカー・企業と製品の一覧

3次元X線CTシステムの製品一覧

1~11 件を表示 / 全 11 件

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3次元X線CTシステム『3DCTシリーズ』

高出力から低出力まで広範囲のワークに対応可能!

『3DCTシリーズ』は、独自技術のユーセントリック(着目中心回転)機能により、 着目したポイントを“ミクロの眼”さらには“ナノの眼”で、360度方向からの 透視観察と高倍率CT撮影を行うことが出来る3次元X線CTシステムです。 超高倍率(2,000倍)、ナノオーダーのフォーカスサイズ(250/800nm)を実現した 超高分解能モデル「XVA-160αII」をはじめ、スタンダードモデル「XVA-160R」、 ワイドレンジモデル「Si-230/300」などをラインアップ。 小型化・高密度化・多層化する高機能な電子部品を、高精度に非破壊解析する ために数多く採用されています。 【XVA-160αII”Z”特長】 超高倍率(2,000倍)、ナノオーダーサイズ(250/800nm)を 実現した、超高分解能モデルです。 指紋センサーの透過像や断層像、エレクトロマイグレーションの断層像 などの撮影事例があり、ユーセントリック機能をはじめ、光軸・回転中心・ フォーカス自動調整機能など多数の機能を搭載しています。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【UHS_X線CTシステム撮影事例】はんだクラックのCT断層

マイクロフォーカスX線CTシステムXVA-160RZにてインターポーザー基板をCT撮影し、はんだクラックを検出した事例です。

XVA-160RZは半導体、電子部品、電子モジュールの品質保証・故障解析・検査用途でオールマイティーに使用できる3次元X線CTシステムです。 透視観察機能、3次元斜めCT機能、直交CT機能など用途に応じて使い分けをすることで、効率的に解析業務を進めるだけでなく、解析の成功率を劇的に向上させます。また、標準搭載されているプログラム運転機能を使うことで、製品選別や抜き取り検査用途で使用いただくことも可能です。 #X線#斜めCT#透過#非破壊#直交CT#クラック#不具合#ボイド#異物#ワイヤー#ボンディング#基板#半導体

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【UHS_X線CTシステム撮影事例】FET観察事例

マイクロフォーカスX線CTシステムXVA-160RZにてFETをCT撮影し、ボイドを検出した事例です。

FET(電界効果トランジスタ)を3次元斜めCTで撮影した事例です。 透視撮影では実装部のはんだとチップ下のはんだが重なり合って各層のボイドを見分ける事が困難です。 そこで、CT撮影をする事で添付資料のように断層を分けて観察する事が可能となります。 XVA-160RZはユーセントリック機能によって透視観察の段階で撮影部位を指定し、そのままサンプルを取り出すことなく、3次元斜めCTの撮影に移行することができるため、工数削減にも繋がります。

  • X線検査装置

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3次元X線CTシステム『XVA-160RA/160αII“Z”』

独自技術「ユーセントリック機構」で高倍率観察を簡単に実現。実装基板や 半導体デバイスの不具合の発見・解析を支援します。

当社は、独自技術「ユーセントリック機構」を採用し、簡単かつ効率的に 高倍率での観察が行える3次元X線CTシステムを提供しています。 斜めCTの撮影では、X線焦点に対象部位を近づけることで 高倍率の断層撮影が可能。細部まで観察でき、実装基板や 半導体デバイスの不具合の発見・解析を強力に支援します。 【特長】 ◎『XVA-160RA』 ■スタンダードモデルをベースに新たに生まれ変わった高精細発生器対応モデル ■ナノフォーカスX線発生器搭載(フォーカスサイズ 250/800nm) ■高倍率1,600倍で細部まで鮮明な観察が可能 ■可視光マッピング機能、フォーカス自動調整機能を搭載 ◎『XVA-160αII“Z”』 ■より高倍率に特化し、パッケージ内部の構造も解析可能なハイエンドモデル ■ナノフォーカスX線発生器搭載(フォーカスサイズ 200nm~) ■高倍率2,000倍で詳細構造まで精密に観察 ■高精細トップテーブル、光軸・回転中心・フォーカス自動調整機能を搭載

  • X線検査装置

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3次元X線CTシステム『XVA-160RA』

ハイエンドのX線源を搭載し、高度な解析を実現 フォーカスサイズ切り替え対応(250nm/800nm)×最大倍率1,600倍

フォーカスサイズの使い分けで、幅広いサンプルに柔軟対応。 XVA-160RAが、あなたの解析ニーズに応えます。 ✓ 様々なサイズ・材質のサンプルに1台で対応したい ✓ サンプルに応じてフォーカスサイズを使い分けたい ✓ ナノレベルの微細構造まで観察したい 特長1: 超高分解能を実現するナノフォーカスX線発生器搭載 最小フォーカスサイズ: 250nm 最大幾何学倍率: 1,600倍 特長2: 世界トップクラスの斜めCT技術 独自技術のユーセントリック機構により、ディテクタ傾斜時・ステージ回転時も着目ポイントを中央に捉え続け、ステージ上どこでも斜めCT撮影が可能です。 さらに高解像度を生み出す再構成アルゴリズムにより、高倍率の斜めCT撮影を実現します。 特長3: 充実した基本機能 自動撮影が可能なティーチング機能や撮影箇所をわかりやすくサポートする可視光マッピング機能等、充実した基本機能を搭載しています。

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  • X線検査装置

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3次元X線CTシステム『XVA-160RCE』

透過・CT両機能を兼ね備えたデスクレス仕様のオールインワンNEWモデル!

『XVA-160RCE』は、微小化の進む電子部品から 両面実装基板まで解析可能な3次元X線CTシステムです。 新たなデザインに加え、従来機よりも省設置スペースを実現します。 (従来比30%減) ご要望の際はお気軽に、お問い合わせください。 【特長】 ■CE規格対応 ■どこでも斜めCT撮影 ■シグナルタワーUPS標準搭載 ■省スペース ■直交CTにも対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • X線検査装置

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3次元X線CTシステム『EVA-160』

広視野でなめらか、大型基板にも対応!大型ステージ搭載の3次元X線CTシステム

当社が取り扱う、3次元X線CTシステム『EVA-160』をご紹介します。 当製品は、新型プラットフォームと新画像処理の組み合わせ、 広視野でなめらか、大型基板にも対応できるモデルです。 標準仕様では、フラットパネルディテクタをはじめ、可視光マッピング機能や フォーカス自動調整機能などを搭載しており、オプションにて、 3次元斜めCT機能、直交CTユニット:Prestoをご用意しております。 【標準仕様】 ■フラットパネルディテクタ ■ユーセントリック機能 ■大型ステージ搭載(500mmサイズ対応) ■可視光マッピング機能 ■フォーカス自動調整機能 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • X線検査装置

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3次元X線CTシステム『XVA-160RZ』

1,600倍の高倍率!高分解能タイプ、広視野タイプのどちらかを選択出来るスタンダードモデル

実用性と性能を両立したスタンダードモデル。 XVA-160RZが、幅広い解析ニーズに応えます。 ✓ 幅広い用途に対応できる装置が欲しい ✓ 標準的な観察から詳細解析まで柔軟に対応したい ✓ 信頼性の高い実績あるモデルを選びたい 特長1: 実用性を追求した高分解能 最大倍率: 1,600倍 ミドルレンジ解析に最適な分解能で、幅広いサンプルに対応。 実用性と性能のバランスを追求したスタンダードモデルです。 特長2: 世界トップクラスの斜めCT技術 独自技術のユーセントリック機構により、ディテクタ傾斜時・ステージ回転時も着目ポイントを中央に捉え続け、ステージ上どこでも斜めCT撮影が可能です。 さらに高解像度を生み出す再構成アルゴリズムにより、高倍率の斜めCT撮影を実現します。 特長3: ユーセントリック機構搭載 ディテクタ傾斜時、ステージ回転時もサンプルを中央に捉え続け、スムーズな解析をご提供いたします。

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3次元X線CTシステム『XVA-160αII"Z"』

超高倍率 ナノオーダー解析を実現したウルトラハイエンドモデル ナノオーダー解析(250/800nm)×最大倍率2,000倍

ナノフォーカスの超高分解能観察で、これまで見えなかった世界を可視化。XVA-160αII"Z"が、最高峰の解析を実現します。 ✓ ナノオーダーの微細構造を鮮明に観察したい ✓ 超高倍率での詳細解析が必要 ✓ 最高レベルの分解能を求めている 特長1: 超高分解能を実現するナノフォーカスX線発生器搭載 最小フォーカスサイズ: 250nm 最大幾何学倍率: 2,000倍 特長2: 世界トップクラスの超高倍率斜めCT撮影 独自技術のユーセントリック機構により、ディテクタ傾斜時・ステージ回転時も着目ポイントを中央に捉え続け、ステージ上どこでも斜めCT撮影が可能です。 XVA-160αII"Z"では、斜めCT技術のパイオニアとして培ってきた高精度メカ機構を採用。 高解像度を生み出す再構成アルゴリズムを組み合わせ、超高倍率の斜めCT撮影を実現します。 特長3: 自動光軸調整機能を搭載 ボタン一つで行える、自動光軸調整機能を搭載。 ユーザー様で常に最高のCT撮影性能を維持することができます。

  • XVA160α?_左_影付き.png
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【UHS_X線CTシステム撮影事例】QFP観察事例

マイクロフォーカスX線CTシステムXVA-160RZにてQFPをCT撮影した事例です。

QFP(Quad Flat Package)を直交CTで撮影した事例です。 内部のチップパターンまで細かく観察する事が出来ます。 XVA-160RZはステージの交換はせずに専用のユニットを装着するだけで簡単に直交CTの撮影が行う事が出来ます。 斜めCTと同様に直交CTも高倍率での撮影が可能です。

  • X線検査装置

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3次元X線CTシステム『XVA-160□520』

業界最大クラスの観察エリア520mm×520mm ナノオーダー解析(250/800nm)×超高倍率(2,000倍)を実現

大型基板の内部を非破壊で詳細に観察したい。 そんなお悩みを、XVA-160□520が解決します。 ✓ 大型ガラス/プリント基板の非破壊解析がしたい ✓ 従来のX線装置では対応できなかった大型ワークのCT観察 ✓ 大型ワーク内部の微細構造を観察したい 特長1: 業界最大クラスの観察エリア 最大視野: 520mm × 520mm 最大搭載サイズ: 630mm × 630mm 従来では対応が難しかった大型ワークの非破壊解析が可能になります。 特長2: 超高分解能を実現するナノフォーカスX線発生器搭載 最小フォーカスサイズ: 250nm 最大幾何学倍率: 2,000倍 特長3: 広範囲×高倍率の斜めCT技術 独自技術のユーセントリック機構により、ディテクタ傾斜時・ステージ回転時も着目ポイントを中央に捉え続け、 ステージ上どこでも斜めCT撮影が可能です。 そのためXVA-160□520では、斜めCT撮影を広範囲(520mm × 520mm)で行うことができます。 また高解像度を生み出す再構成アルゴリズムにより、広範囲×高倍率の斜めCT撮影を実現します。

  • 2509722_uhs_15.jpg
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