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効率的なワークフローを実現！生産性が向上し、分析結果の信頼性が高まります
『Agilent 7850 ICP-MS』は、極微量から高濃度まで幅広いダイナミック レンジで検出できます。 高マトリックスサンプルも複雑なアプリケーションも簡単に条件を設定可能。 日々の作業がスムーズになるほか、生産性が向上し、分析結果の信頼性が 高まります。 また、ICP-MS MassHunterソフトウェアは、ルーチンワークフロー用に 最適化されており、新しい機器を短期間で習得します。 【特長】 ■ICP-MS分析での時間の浪費をスマートに減らす ■新しい機器を短期間で習得 ■使いやすいシンプルなインタフェース ■メソッドの開発や文書化の手間を軽減 ■サンプル前処理を簡略化 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
sspICP-MSの原理、およびフォトレジスト中の金属粒子を測定した事例を紹介する。
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。 【要旨】 Single Particle ICP-MS(以下、spICP-MS)は、ICP-MSの高い感度と元素選択性を活かして特定の金属を含む微小かつ微量の粒子を検出し、その濃度および粒径分布を取得できる手法である。ここでは、spICP-MSの原理、およびフォトレジスト中の金属粒子を測定した事例を紹介する。 【目次】 １. はじめに ２. spICP-MSの原理と特徴 ３. 有機溶媒直接導入法 ４. フォトレジスト中のAl, Fe, Cu粒子分析 ５. まとめ
固体試料中の極微量までの元素を直接定性・定量・イメージング分析
高繰り返し周波数レーザーとガルバノ光学系を搭載したレーザーアブレーション（LA）システムと、堅牢なThermo Scientific iCAP MXシリーズICP-MSを接続したLA-ICP-MSシステムは、元素分析の迅速化・高精度化・分析能力の拡張を実現します。 ■元素分析を簡便化・迅速化 ・固体試料表面をレーザー照射でサンプリングし、ICP-MSで直接分析 ・従来の溶液化前処理のための器具の洗浄や、試薬・廃液の管理などの煩雑な運用が不要となり、コスト・作業負荷・環境負荷を低減 ■溶液ICP-MSと同等以上の感度・精度を達成 ・従来の前処理時の秤量誤差やコンタミネーション、測定時の酸や溶媒起因の干渉がなくなり高精度化 ・高速アブレーションにより高感度化 ・柔軟で高精度な定量方法を適用でき、試料と同じ材質の標準試料がなくとも定量分析が可能 ■ICP-MSの分析能力を拡張 ・難溶解性試料・粉末試料・非導電性試料を含む幅広い試料の分析が可能 ・広さ～数cm角、深さ～数100 µmにおよぶ広域の2D／3D元素イメージングが可能 ・定量濃度に基づくイメージングで正確な解析が可能
アジレントの最新技術の活用事例や分析ノウハウをぜひご覧ください。
アジレントの最先端の半導体・エレクトロニクス分析ソリューション 過去の半導体ウェビナーの動画視聴と資料ダウンロードいただけます。 最新技術の活用事例や分析ノウハウをぜひご覧ください。 <ご視聴・ダウンロードは下の「関連リンク」から！！＞ ＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝ ウェビナー動画 半導体分野における極微量金属不純物分析の最近のニーズ ICP-MS の DL・BEC を極限まで下げるための基礎知識 ICP-MS による微量 Si 分析の現状と課題 データ管理システムを活用したデータインテグリティ対応と業務効率化 半導体業界のための GC/MS ソリューション LC/MS による材料中の PFAS 分析最新情報 アジレント元素分析装置 ポートフォリオのご紹介 ＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝ PDF 資料 OpenLab ECM XT が、材料分析の「分析作業効率」・「精度管理」・「データ改ざん」 課題を解決 材料メーカーが知っておくべき ICP-MS 分析のヒント
