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SEM装置歪評価×一般財団法人材料科学技術振興財団 MST - 企業1社の製品一覧

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SEM装置での歪み評価

EBSD:電子後方散乱回折法

TEM(NBD:Nano Beam Diffraction)のような薄片化加工を行うことなく、バルク状態での測定が可能です。 SEM特有の高い空間分解能を持ち、比較的高い歪み感度を持っています。 また、局所的な格子歪みをテンソルデータとして検出できる可能性があります。

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