【取扱説明書】TEMホルダー
透過電子顕微鏡（TEM）用の試料作製に好適！ダイヤルゲージで研磨量を1μm単位で設定可能
当資料は、透過電子顕微鏡用の試料作製に適している『TEMホルダー』の 取扱説明書です。 「付属品一覧」をはじめ「TEMホルダー構造」や「研磨量制御の仕組み」 などを掲載。 また、「使用・清掃に関しての注意」についても記載がありますので、 ぜひご一読ください。 【掲載内容（一部）】 ■付属品一覧 ■TEMホルダー構造 ■研磨量制御の仕組み ■試料の貼り付け（熱ワックスでの固定） ■試料の貼り付け（両面粘着シートでの固定） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：ムサシノ電子株式会社
- 価格：応相談
