透過電子顕微鏡（TEM）用の試料作製に好適！ダイヤルゲージで研磨量を1μm単位で設定可能
当資料は、透過電子顕微鏡用の試料作製に適している『TEMホルダー』の 取扱説明書です。 「付属品一覧」をはじめ「TEMホルダー構造」や「研磨量制御の仕組み」 などを掲載。 また、「使用・清掃に関しての注意」についても記載がありますので、 ぜひご一読ください。 【掲載内容（一部）】 ■付属品一覧 ■TEMホルダー構造 ■研磨量制御の仕組み ■試料の貼り付け（熱ワックスでの固定） ■試料の貼り付け（両面粘着シートでの固定） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【掲載内容】 ■（1）貼付板の取り付け ■（2）ゼロ点調整 ■（3）研磨量の設定 ■（4）研磨 ■使用・清掃に関しての注意 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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用途／実績例
【用途】 ■透過電子顕微鏡(TEM)用試料作成 ■研磨量を制御しての研磨が必要な試料作製 加工実績のある材料例 半導体材料(シリコン、ゲルマニウム、炭化ケイ素、珪化ストロンチウム、ガリウム砒素、インジウムガリウムヒ素、インジウムリン、酸化インジウムガリウム亜鉛、窒化ガリウム、酸化ガリウム、カドミウムテルル …など) 光学材料(石英ガラス、サファイア、蛍石レンズ、スピネル、リン酸塩ガラス、ホウ酸リチウム、アクリル樹脂(、CLBO、YiG、GGG …など) セラミックス材料(アルミナ、ジルコニア、窒化ケイ素、フェライト …など) 金属材料(鉄鋼材料、ステンレス、銅、金、銀、白金、アルミニウム、チタン、モリブデン …など) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
弊社は長年に渡り培ってきた技術的ノウハウを用いて、精密加工に適した研磨装置、切断機、スクライバーなどを製造してきました。 特に半導体やセラミックス、光通信などの最先端技術分野において多くの納入実績がございます。 標準仕様の装置の他にも、お客様のニーズに合わせた特注仕様品の設計・製造も承っております。 年々上がり続ける精密加工への精度要求、多様化するニーズに応えるべく、独創的なアイデアと技術を持って邁進してまいります。
