X線回折測定(表面分析) - メーカー・企業と業務用製品 | イプロスものづくり

微小部X線回折測定

微小異物や腐食生成物の化合物同定など、さまざまな調査に活用可能！

当社が行っている「微小部X線回折測定」についてご紹介いたします。 X線を照射して得られる回折パターンから、化合物の同定や 結晶構造に関する情報を得ることができる分析手法です。 モノキャピラリと半導体検出器の組み合わせにより、 微小領域の構造解析や局所分析を効率的に行うことができます。 【特長】 ■化合物の同定や結晶構造に関する情報を取得 ■試料表面上の微小領域を対象とした測定が可能 ■微小領域の構造解析や局所分析を効率的に実施 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。