更新日： 集計期間:2025年08月20日～2025年09月16日
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環境粉じんの定量分析にも最適！高温下での測定も可能なＸ線回折装置！
『X線回折装置』は、回折したX線の角度やX線強度を測定することによって、 結晶構造つまり物質名を調べる装置です。 定性分析時の回折位置や積分強度から、リートベルト解析法による物質ごとの 定量分析も行うことができます。 また、高温下（常用で室温～1300 ℃）での測定も可能です。 【試験項目】 ■結晶構造の同定、定量分析 ■結晶格子の大きさや格子ひずみ測定 ■環境粉じんの定量分析 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
全回折パターンをリアルタイムに同時取得できる、独自のCPS検出器を搭載したX線回折装置（XRD)
卓上型のARL EQUINOX 100 X線回折装置はコンパクトな卓上型で、材料の研究開発、動的挙動解析、製薬業界のQA/QCのルーチン分析、大学などの教育機関において、迅速な分析、in situ実験、結晶相の形成と転移に関する解析などを実現します。 ARL EQUINOX 100には、独自のCPSCPS（Curved PositionSensitive）検出器を搭載しており、全回折パターン（～110°/2θ）を短時間かつ同時に測定できます。また、薄膜測定（GIXRD、XRR）が可能で、測定に応じて多種多様なアタッチメントをご用意しています。
XRD・XAFSによる複合解析で、より詳細な評価が可能
high-k材料や強誘電体として注目されているHfZrOx膜は、結晶構造によって誘電率等の物理的性質が大きく変化することから、結晶構造の同定・各結晶構造の含有割合の算出が重要な評価項目です。 通常XRDやXAFSによって評価可能ですが、一方の手法だけでは詳細な解析が困難な場合でも、これら2つの手法を組み合わせることでより詳細な情報が得られます。今回、XRDとXAFSの複合解析によって、HfZrOx膜の結晶構造の同定および、各結晶構造の含有割合の算出を行った事例を紹介します。
XRDは、回折パターンから試料の結晶構造情報を得る手法です。
・結晶性物質の同定が可能 ・結晶子サイズの評価 (数nm～100nm)が可能 ・結晶化度の評価が可能 ・配向性の評価が可能 ・歪み量・応力の評価が可能 ・非破壊で分析が可能 保有装置の特徴 ・室温～1100℃までの加熱分析が可能 ・ビーム径100μmまでの微小部測定が可能 ・N2、He、Ar、真空での雰囲気制御が可能
最上位精度の全自動多目的X線回折装置による定性・定量分析
XRDynamic 500は、卓越したXRDデータ品質と最大限の効率性を実現します。粉末XRD、非大気下XRD、PDF解析、SAXSなどの最適なソリューションにより、幅広いアプリケーションをカバーする多目的プラットフォームを活用できます。 直感的な操作性と、完全に自動化された光学系のアライメントルーティンにより、初心者から熟練者まで、誰もがエラーを最小限に抑えながら、最高品質のXRDデータを迅速に収集することができます。 X線光学系を正しく選択すれば、XRDデータの品質を大幅に向上させ、定量・定性分析を容易にし、回折データに潜む重要な情報を見落とさずに実験を進めることができます。
２次元検出器や多軸ステージの導入により材料分析メニューが充実しました
この度、当社では新たにＸ線回折装置を導入いたしました。 この装置は、大型２次元半導体検出器や大型多軸ステージを搭載し、 従来に比べ高効率、高精度の分析が可能になりました。 これにより粉末を対象とした分析に加え、 金属部品の微小部測定や高配向材料（結晶方位が制御された材料） の解析など、材料分析への適応範囲が拡大しました。 ここでは、腐食調査に関する分析例や新たに測定可能になった結晶方位解析に 関する分析事例をご紹介します。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
二次電池の充放電過程における正極/負極材料の粒径・ひずみ量評価などの用途に！
当社で行う「リートベルト解析によるX線回折データの定量分析」 についてご紹介いたします。 X線回折データにリートベルト解析を適用することにより、標準試料を 必要とせずに、試料に含まれる結晶相の質量分率、結晶子サイズ、 均一ひずみの定量が可能です。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■標準試料を必要とせずに、試料に含まれる結晶相の質量分率、 結晶子サイズ、均一ひずみの定量が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
