WAT6600 ウエハ・アクセプタンス・テスト
1pAの精度で、48ピン同時測定。並列測定でスループット最大化
WAT6600は、DC測定・キャパシタンス測定に加え、リングオシレータなどの高周波特性評価やフラッシュメモリテストにも対応する、高効率な並列パラメトリックテストシステムです。 複数チャネルを同時に測定可能なため、ウェーハ工程でのスループットを大幅に向上。精度・速度の両立により、量産ラインおよび評価工程に最適です。 主な特長： 正確なDC／CV測定 高周波アプリケーション対応（リングオシレータ測定など） フラッシュメモリの機能評価も可能 高い並列性によりテスト時間を短縮
- 企業：Semi Next株式会社 本社、三重事業所
- 価格：応相談
