オンライン用近赤外分析計(FT-NIR) MATRIX-F II
非破壊分析・品質管理に必需品となった近赤外分析計(FT-NIR)、プロセス管理においても信頼性の高い評価分析を実現します。
プロセス用近赤外分光計(FT-NIR)のMATRIX-F IIは設置環境を選ばない堅牢性と、再現性の高い分析結果を与える抜群の感度安定性が特徴です。
- 企業:ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
- 価格:応相談
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非破壊分析・品質管理に必需品となった近赤外分析計(FT-NIR)、プロセス管理においても信頼性の高い評価分析を実現します。
プロセス用近赤外分光計(FT-NIR)のMATRIX-F IIは設置環境を選ばない堅牢性と、再現性の高い分析結果を与える抜群の感度安定性が特徴です。
非破壊でリアルタイムかつ効率的な分析を工程管理を実現
本分析計は、近赤外線による非破壊分析法のため従来の分析法で懸念される環境汚染の原因となる化学薬品を使用していません。本分析計は、振動及び外部音波に影響されにくいメンテナンスフリーの回折格子分析法を採用しているため、貴社製品製造工程の現場にて安定してご使用いただけます。本分析計は日常メンテナンスフリーであり、ランプの定期的な交換を行っていただくだけで完了します。