【半導体・ウエハ検査】AI×フルカラー画像検査装置AURCA
過剰検出でお悩みの製造現場へ。AI解析×フルカラー画像検査でウエハの微細な欠陥を正確に判定、歩留まり向上を実現する検査装置です。
■半導体・ウエハ検査におけるこんな課題はありませんか？ ・微細な欠陥を見逃せないが、過剰検出が多く歩留まりが低下している ・検査工程の効率化と精度の両立が難しい AI解析機能を搭載した画像検査装置『AURCA』がその課題を解決します。 【AURCAが選ばれる理由・他社との違い】 ▼AI解析×フルカラーの圧倒的な検査精度 従来のモノクロ画像では判別困難だった微細なキズやムラも、フルカラー画像と先進のAI解析を組み合わせることで正確に判定。良品・不良品の切り分け精度が飛躍的に向上します。 ▼オートフォーカス機能で設定工数を削減 対象物に合わせてピントを自動調整。段取り替えの時間を短縮し、常に最適な条件で高精細な検査が可能です。 【導入メリット】 ・過剰検出を大幅に低減し、半導体基板の歩留まりを向上 ・目視検査への依存を減らし、品質の安定化とコスト削減を実現 カタログでは、詳細な製品仕様やAI解析の仕組み、検出能力のデータを掲載しております。導入比較の検討資料としてぜひお役立てください。
