過剰検出でお悩みの製造現場へ。AI解析×フルカラー画像検査でウエハの微細な欠陥を正確に判定、歩留まり向上を実現する検査装置です。
■半導体・ウエハ検査におけるこんな課題はありませんか？ ・微細な欠陥を見逃せないが、過剰検出が多く歩留まりが低下している ・検査工程の効率化と精度の両立が難しい AI解析機能を搭載した画像検査装置『AURCA』がその課題を解決します。 【AURCAが選ばれる理由・他社との違い】 ▼AI解析×フルカラーの圧倒的な検査精度 従来のモノクロ画像では判別困難だった微細なキズやムラも、フルカラー画像と先進のAI解析を組み合わせることで正確に判定。良品・不良品の切り分け精度が飛躍的に向上します。 ▼オートフォーカス機能で設定工数を削減 対象物に合わせてピントを自動調整。段取り替えの時間を短縮し、常に最適な条件で高精細な検査が可能です。 【導入メリット】 ・過剰検出を大幅に低減し、半導体基板の歩留まりを向上 ・目視検査への依存を減らし、品質の安定化とコスト削減を実現 カタログでは、詳細な製品仕様やAI解析の仕組み、検出能力のデータを掲載しております。導入比較の検討資料としてぜひお役立てください。
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企業情報
当社の検査対象分野は、プリント基板や半導体パッケージ、ディスプレイパネルなど。IT化の進展でますます成長する情報通信機器や普及著しいデジタル家電のコア部品です。プリント基板・半導体パッケージ・ディスプレイパネルは、目を見張るようなスピードで進化し、検査においてもより高精度な技術が求められます。当社は最先端の技術が要求されるこれらの検査分野において高いシェアを占め、「デファクト・スタンダード（業界標準）」と認知されるような製品を数多く世界中に送り出しています。
