ゲートリーク試験機 - メーカー・企業と製品の一覧

ゲート・リーク試験器 [GLテスタ]

高温下で高圧電界を発生させデバイスの誤動作を評価するGLテスタ、AEC-Q100-006 REV-Cに準拠

高温下にあるICに高電界を加えると、ICのカタログ仕様に不適合の項目が発生する場合（例えばIcc、入力リーク、ACパラメータ、ファンクション特性）があります。これを電気熱誘導寄生ゲートリーク（GL）と言います。GLが発生したデバイスは"不良"とみなされますが、GL不良は通常125℃ 4時間（または150℃ 2時間）のベーキングで回復します。 本装置は、高温下で電界を発生させる装置で、AEC-Q100-006 REV-Cに準拠するGL試験を行います。手動試験のモデル 6900Mと、自動試験のモデル 6900Aがあります。 ※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。

• 企業：東京電子交易株式会社
• 価格：100万円 ~ 500万円

• 試験機器・装置