半導体テストソリューション：システムレベルテスト
テストカバレッジ（網羅率）100%を達成！ＥＶ／５Ｇ／ＡＯＩ等の分野にて公的な実使用環境テストを実施可能！
高機能化に伴う膨大な測定、及び微細化による超高速Ｉ／Ｆなど、ＡＴＥで完全な不良検出が難しくなっています。 これらの解決手段として、システムレベルテスト（ＳＬＴ：実使用環境でのテスト）を提案します。 なぜシステムレベルテストが必要か？ ＥＶ／５Ｇ／ＡＯＩ等の進化で、半導体ＩＣも単体からシステムＩＣ（ＳｏＣ）へと変わり、さらに高機能化が求められております。 高機能化に伴い、膨大な測定項目及び微細化による超高速Ｉ／Ｆ化で、ＡＴＥでの完全な不良検出が難しくなっています。 これらの解決手段として、システムレベルテスト（ＳＬＴ：実使用環境でのテスト）が必要になっています。 ＣｈｒｏｍａのＳＬＴハンドラは、この分野に大きく貢献しており、また、顧客ニーズに合わせて進化しております。
- 企業：クロマジャパン株式会社
- 価格：応相談
