異方性ネオジム磁石の配向評価
ネオジム磁石に代表される異方性磁石X線回折の極点図測定結果から、残留磁束密度に対する結晶学的配向度の算出を可能としました。
ネオジム磁石に代表される異方性磁石の着磁前のX線回折の極点図測定結果から、残留磁束密度に対する結晶学的配向度の算出を可能としました。異方性磁石は磁化容易軸の結晶配向度が高いほど、着磁後の残留磁束密度が大きくなることから、着磁前の結晶配向度を把握することは異方性磁石の開発や生産ラインの品質管理に役立ちます。
- 企業：株式会社大同分析リサーチ
- 価格：1万円 ~ 10万円
