ネオジム磁石に代表される異方性磁石X線回折の極点図測定結果から、残留磁束密度に対する結晶学的配向度の算出を可能としました。
ネオジム磁石に代表される異方性磁石の着磁前のX線回折の極点図測定結果から、残留磁束密度に対する結晶学的配向度の算出を可能としました。異方性磁石は磁化容易軸の結晶配向度が高いほど、着磁後の残留磁束密度が大きくなることから、着磁前の結晶配向度を把握することは異方性磁石の開発や生産ラインの品質管理に役立ちます。
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基本情報
異方性磁石の重要な特性の一つに残留磁束密度があります。磁化容易軸の向きが揃うほど、すなわち結晶配向度が高いほど、着磁後の残留磁束密度は大きくなります。このことから着磁前の結晶配向度を把握することは異方性磁石の開発や生産ラインの品質管理の面で極めて重要です。 通常、着磁後の磁気測定結果から算出するものを、着磁前にX線回折の極点図測定結果から残留磁束密度に対応する結晶学的配向度の算出を可能としました。加えて、磁化容易軸の角度算出も可能としました。
価格帯
1万円 ~ 10万円
納期
用途／実績例
着磁前の結晶配向度を把握することは異方性磁石の開発や生産ラインの品質管理に役立ちます。
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企業情報
大同分析リサーチは、あらゆる材料分野で蓄積してきた信頼性の高い分析・解析技術と、広範囲な業界のお客様からいただいた課題をもとに、先進シンクタンクの構築を進めてまいりました。お客様の種々な課題に対し、最少費用と最短納期で問題解決を図ります。今後も最新鋭の設備と高度なマンパワーを駆使してお客様の研究開発を支援し、未来を豊かに彩る製品づくりのお手伝いをさせていただきたいと考えています。