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バウンダリスキャンテストシステム - メーカー・企業と製品の一覧

バウンダリスキャンテストシステムの製品一覧

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BGA搭載基板にも対応!【JTAGテスト適用事例集】

品質の改善、テスト範囲の向上につながったJTAGテストの事例集です。

JTAGバウンダリスキャンは、BGA搭載基板の実装テストも簡単に実施できるテスト手法です。 様々なメリットがありますので、事例から、ヒントが得られると思っています。 【事例】 ・アズビル太信様:JTAGテストで未検査領域を減らしお客様へ安心をご提供! ・アンリツ様:高性能・高品質な計測を支えるJTAGテストテスト! ・沖電気コミュニケーションシステムズ様:JTAGテストによるBGAの実装保証を実現 ・コニカミノルタ電子:高密度実装における一貫した先進の検査体制を確立 ・サクサテクノ様:BGAの基板の不良箇所をピンレベルで特定して製造品質を向上 ・TEAC様:開発初期の信頼性を向上させてJTAGテスト ※事例紹介のご許可をいただいた当時の会社名となっております。

  • 基板検査装置

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