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スリットスキャン式！アプリケーションに適したセンサを各種ご用意しています
当シリーズは、スリットスキャン式のレーザビームプロファイラです。 NanoScanシステムは、スリットスキャン式の優位性としてサブミクロンの 測定精度、シリコン、ゲルマニウム、パイロエレクトリックディテクタを 採用しており広波長範囲に対応しています。 ソフトウェアは数多くのISO規格に準拠した測定に対応、M2 Wizard機能搭載、 レーザ出力測定も可能です。 【特長】 ■スリットスキャン式 ■NanoScanシステム ・広波長範囲に対応 ■ソフトウェア ・数多くのISO規格に準拠した測定に対応 ・M2 Wizard機能搭載 ・レーザ出力測定も可能 ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
すべての測定がリアルタイム！起動直後に発生するフォーカルシフトの計測が可能
『BeamWatch AM』は、レーザーを使用したアディティブマニュファクチャリング、 または3Dプリンターシステム用の重要なレーザービームパラメーターを測定する為に 設計されたプロファイラです。 カメラの視野（FOV）内のビーム集光曲線に沿った複数のプロファイルの 同時計測が可能です。 リアルタイム測定では各ビデオレートで「ウエスト（集光スポット）幅と位置」 「焦点シフト」「重心」などの値を測定。レーザー始動時からの焦点シフトの 計測ができます。 【特長】 ■カメラの視野内のビーム集光曲線に沿った複数のプロファイルの同時計測が可能 ■リアルタイム計測している為、レーザー始動時からの焦点シフトの計測が可能 ■ビーム空間測定に必要なCCDカメラと、NISTトレーサブルのパワーセンサを搭載 ■レーザーパワー密度の解析が可能 ■起動直後に発生するフォーカルシフトの計測が可能 ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
