スリットスキャン式！アプリケーションに適したセンサを各種ご用意しています
当シリーズは、スリットスキャン式のレーザビームプロファイラです。 NanoScanシステムは、スリットスキャン式の優位性としてサブミクロンの 測定精度、シリコン、ゲルマニウム、パイロエレクトリックディテクタを 採用しており広波長範囲に対応しています。 ソフトウェアは数多くのISO規格に準拠した測定に対応、M2 Wizard機能搭載、 レーザ出力測定も可能です。 【特長】 ■スリットスキャン式 ■NanoScanシステム ・広波長範囲に対応 ■ソフトウェア ・数多くのISO規格に準拠した測定に対応 ・M2 Wizard機能搭載 ・レーザ出力測定も可能 ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【ラインアップ】 ■NanoScan 2s Si/3.5/1.8 ■NanoScan 2s Si/9/5 ■NanoScan 2s Ge/3.5/1.8 ■NanoScan 2s Ge/9/5 ■NanoScan 2s Pyro/9/5 ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途／実績例
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企業情報
株式会社オフィールジャパンでは、世界で認められた高い品質、 常に時代先端の技術開発を誇るOphir Optronics Solutions Ltd. (イスラエル）で 開発、製造される全製品の輸入販売並びに国内修理、校正サービスを ご提供しております。 革新的な技術を礎に、Ophir社の製品は世界市場で多くのシェアを獲得しており、 これらをサポートするため当社を含むOphir Groupでは570名以上の従業員を 擁しております。
