ICテストソケット・ピンタイプソケット
お客様のご要望に応じて、カスタマイズ設計・製作可能!
ピンタイプICテストソケットは、お客様のご要望に応じて完全カスタマイズが可能です。 合金材料、プローブ構造、めっき仕様などを各種試験条件に合わせて設計・製作できるため、高周波・高速・広温度範囲など、幅広いテスト用途に対応しております。 現在、最小0.3mmピッチの半導体チップ試験にも対応可能です。
- 企業:WinWay Technology Co., Ltd.
- 価格:応相談
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お客様のご要望に応じて、カスタマイズ設計・製作可能!
ピンタイプICテストソケットは、お客様のご要望に応じて完全カスタマイズが可能です。 合金材料、プローブ構造、めっき仕様などを各種試験条件に合わせて設計・製作できるため、高周波・高速・広温度範囲など、幅広いテスト用途に対応しております。 現在、最小0.3mmピッチの半導体チップ試験にも対応可能です。