フライングプローブテスタのメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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フライングプローブテスタ(基板) - メーカー・企業と業務用製品 | イプロスものづくり

フライングプローブテスタの製品一覧

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【導入事例】通信インフラ・サーバー向け大型基板の検査

【導入事例】通信インフラ・サーバー向け大型基板の検査

通信インフラ・サーバー向け大型基板の検査に、タカヤのフライングプローブテスタを活用ください。

通信インフラやサーバー向けの大型基板検査では、治具レス検査が特に有効です。基板サイズが大きくても効率的に対応でき、柔軟性と精度を兼ね備えた検査手法が品質向上とコスト削減に寄与します。これにより、通信インフラやサーバー分野での信頼性確保に大きく貢献します。 【導入実績】 ・大型基板特有の品質要求に応じた検査技術を確立。 ・通信インフラ機器やサーバー向け製品で使用される高精度な基板の信頼性を保証。 【お客様がかかえられていた課題】 大型基板の取り扱い: 治具式テスタでは、サイズが大きい基板に対応する治具の設計・製作が困難。 重量や取り回しの制約から、段取り時間が長くなる。 設計変更への対応: 大型基板ではテストポイントの数が多く、設計変更時に治具の修正コストが増大。 検査工程の柔軟性が低いため、少量多品種の製造に適していない。 コストと保管スペース: 大型基板用の治具は製作コストが高く、保管スペースを圧迫。 複数の製品ラインを運用する場合、治具の管理が複雑化。

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【導入事例】自動車基板、車載基板の不良解析

【導入事例】自動車基板、車載基板の不良解析

自動車基板、車載基板の不良解析に、タカヤのフライングプローブテスタを活用ください。

自動車基板の不良解析では、フライングプローブテスタを活用することで、不良箇所の迅速な特定と、修理可能性の向上を実現します。解析時間短縮と廃棄基板削減により、品質向上とコスト効率の両立を図り、自動車産業における信頼性向上に寄与します。 【導入実績】 ・ファンクションテストで不良と判定された基板や、市場から故障で返却された基板の不良箇所を解析。 ・短時間での原因特定により、製品改善と不良削減に貢献。 【お客様がかかえられていた課題】 高度な知識が必要: 不良解析では、回路設計、実装技術、動作特性の知識が求められる。 複雑な自動車用基板では、原因が多岐にわたるため、解析が難航する場合がある。 解析時間の長期化: 手動での解析や目視による確認は、時間がかかり、不良箇所を特定できないこともある。 特に多層基板では内部接続不良や微細短絡の検出が難しい。 廃棄基板の発生: 不良箇所が特定できない場合、基板全体を廃棄せざるを得ず、コストが増加。

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【導入事例】発電・電力システム向け基板検査

【導入事例】発電・電力システム向け基板検査

発電・電力システム向け基板検査に、タカヤのフライングプローブテスタを活用ください。

AOIでは検査が難しいディスクリート部品や手挿入部品に対し、APTを活用した電気的検査を組み合わせることで、発電・電力システム基板に求められる高い品質基準を実現し、効率的な検査体制を提供します。 【導入実績】 ・ディスクリート部品を中心とした実装確認を実施し、高信頼性を要求される電力システム基板の品質保証を達成。 ・電源ラインや手挿入部品を含む基板での全数検査を実現。 【お客様がかかえられていた課題】 AOIでの検査限界: AOI（外観検査装置）は、表面実装部品の検査には優れるものの、以下の点で限界がある： 手挿入部品の検査が困難: 電源ラインや大型ディスクリート部品の実装品質を十分に検証できない。 部品の位置や極性の確認不足: AOIでは正確な電気特性を確認できないため、誤挿入や極性不良が見逃されるリスク。 電源通電時のリスク: 電源ラインの不良部品や誤配線が、基板の破損や部品破壊につながる可能性。 特にディスクリート部品の品質保証が不十分な場合、発熱や短絡のリスクが高まる。 廃棄基板の発生: 通電テストで基板が破損した場合、不良基板の廃棄が発生し、コストが増加。

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【導入事例】医療機器向け大型基板の検査

【導入事例】医療機器向け大型基板の検査

医療機器向け大型基板の検査（バウンダリースキャンとの連携）に、タカヤのフライングプローブテスタを活用ください。

外観検査・非接触スキャン・物理プロービングを組み合わせた検査体制で、医療機器分野での厳しい信頼性基準を満たし、品質向上とコスト削減を両立します。 【導入実績】 ・インライン検査での全数検査を実現し、製品品質を保証。 ・バウンダリースキャン技術との連携により、大型基板や複雑な設計基板での不良検出能力を強化。 【お客様がかかえられていた課題】 APT単体での限界: フライングプローブテスタは電気特性検査に優れるが、BGAやQFPなどピン接続が隠れた部品ではプローブの物理的アクセスが困難。 高密度基板ではプロービングだけでカバーしきれない部分が発生。 AOIでの制約: BGAや大型コンポーネントの下部にある不良（ハンダブリッジや接続不良）を検出できない。 多層基板の内部接続や微小短絡は検知できない。 大型基板では視野を超える部分が発生し、全域を効率的に検査するのが難しい。 大型基板や複雑設計の課題: 大型基板では、AOI・APTの双方で検査時間が増加しやすく、生産性が低下。 高密度実装基板での全数検査には、物理プロービングや非接触検査を組み合わせた効率的な検査体制が必要。

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【導入事例】航空宇宙・防衛分野向け基板検査

【導入事例】航空宇宙・防衛分野向け基板検査

航空宇宙・防衛分野向け基板検査に、タカヤのフライングプローブテスタを活用ください。

航空宇宙・防衛分野では、高い品質基準が求められる中、フライングプローブテスタを活用することで、少量生産基板の検査が効率化されます。治具不要の柔軟な検査フローにより、短納期対応やトレーサビリティの確保が可能になり、品質向上とコスト削減を両立します。 【導入実績】 ・少量生産基板の全数検査を実施し、高信頼性を求められる製品の品質保証を達成。 ・高精度な検査フローにより、航空宇宙や防衛分野特有の厳しい要求に対応。 【お客様がかかえられていた課題】 治具作成の負担: 治具式テスタでは、基板ごとに専用治具が必要となり、少量生産ではコストが過大。 治具の設計・製作に時間がかかり、短納期での対応が難しい。 不良検知の難易度: AOIやファンクションテストのみでは検出が困難な微細な不良（隠れたショート、内部配線不良）が見逃されるリスク。 特に多層基板では、外観検査や通常の通電試験では品質保証が不十分。 トレーサビリティの要求: 航空宇宙・防衛製品では、測定結果や検査データを詳細に記録し、将来的なトレーサビリティを確保する必要がある。

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インサーキットテスト最速！フライングプローブテスタの特徴とは？

インサーキットテスト最速！フライングプローブテスタの特徴とは？

タカヤAPTシリーズは、業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。

タカヤAPTシリーズは、超高速検査で実装基板のあらゆる不良を各自に検出し、世界トップシェアの圧倒的実力を誇るフライングプローブ式のインサーキットテスタです。 インサーキットテスタは、電気部品と基板の接続信頼性を検査する装置です。動作電流よりも小さい信号を印加し検査を行うため、部品・基板を破損させることなく、不良個所の特定や定数間違いを検出できます。外観検査（AOI）では発見することのできない電気的な不良を発見し、品質保証レベルを高めることで、お客様からの信頼を得られやすくなることが特徴です。 最新のAPTシリーズでは、高速駆動モーターと通信制御の改良により、従来モデルと比べ、プローブ移動速度を最大1.5倍にアップし、最速0.02秒ステップの高速検査を実現しました。検査時間を従来モデルより30％以上短縮、さらなる検査コストの削減にも貢献致します。 トライアル/テストも相談賜ります。 実装基板の検査でお困りごとがありましたら是非、お気軽にお問合せ下さい。 ※詳細情報はカタログにてご覧いただけます※

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【導入事例】半導体製造装置における高密度基板検査

【導入事例】半導体製造装置における高密度基板検査

半導体製造装置における高密度基板検査工程に、タカヤのフライングプローブテスタを活用ください。

IEC60384-1に準拠した高精度な検査が可能です。固定コンデンサなど電子部品の特性を国際基準で保証し、高密度基板の品質向上を実現します。設計変更やプロトタイプにも柔軟に対応し、コスト効率の高い検査ソリューションを提供します。 【導入実績】 ・高密度実装基板の検査を実施し、精密な基板に対応した品質保証を実現。 ・IEC60384-1規格（固定コンデンサの性能基準）に準拠した検査を可能とし、国際基準に対応した製品品質を保証。 【お客様の課題】 部品間ピッチの狭さ: 高密度基板では部品間のスペースが極めて狭く、従来の治具式検査では物理的な接触が困難。 特に0.2mm以下の狭ピッチ部分や高ピン数の部品で、検査精度が低下する可能性。 規格対応の必要性: IEC60384-1に代表される国際規格への対応が求められる中、規格に基づいた検査項目を確実に実施する体制が必要。 特に固定コンデンサや特殊部品の特性測定が精密かつ迅速に行えることが求められる。 検査カバレッジの限界: 特にテストポイントが減少した設計では、物理的なアクセス不足により、検査カバレッジが低下するリスク。

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フライングプローブテスタ APT-2400F-SL

フライングプローブテスタ APT-2400F-SL

高機能な測定システムと多彩な機能を備え、試作から量産までの品質向上に貢献！

APT-2400F-SL は、APT-2400F の基本性能をそのままに、対応基板サイズを W635×D610mmまで拡大した大型モデルです。 さらに、オプションの分割検査機能を追加することで、最大W985×D610mmの長尺基板の検査が可能です。 搭載部品高さ 上面60mm/下面120mm、基板重量15kgまで対応できますので、 車載/航空機/医療機器/電源基板/プローブカードなど、サイズが大きく重量のある基板の検査に適しています。 岡山本社/東京支店のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストを承ります。 検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。

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【導入事例】コンシューマー製品向け基板検査

【導入事例】コンシューマー製品向け基板検査

コンシューマー製品向け基板検査に、タカヤのフライングプローブテスタを活用ください。

コンシューマー製品向け基板の量産工程では、実装前にチップ部品の定数検査とマウンタプログラムの確認を行うことで、ロットアウトや不良品流出を防止し、製造工程の効率化と品質向上を両立します。 【導入実績】 ・量産型高密度実装基板の機種切り替え工程において、マウンタのプログラム確認やチップ部品の定数検査を実施。 ・短時間かつ高精度な検査により、製造工程の効率化を実現。 【お客様がかかえられていた課題】 部品セットミス: 実装工程での部品セットミスや、指定外の部品が装着されるリスク。 特に量産型ではミスの発見が遅れると、大量のロットアウトが発生。 プログラムミス: マウンタのプログラム設定ミスにより、誤った部品が基板に装着される可能性。 設定ミスが後工程で発見された場合、再作業や廃棄コストが増大。 目視検査の限界: 手作業や目視による確認は、作業者のスキルや疲労に依存し、検査漏れや誤検知が発生しやすい。

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インサーキットテスト最速！フライングプローブテスタの活用事例

インサーキットテスト最速！フライングプローブテスタの活用事例

タカヤAPTシリーズは、業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。活用事例を紹介します。

■量産品の検査 ローダー/アンローダーと接続し、大ロットでも自動化、無人検査が可能です。 　　　　　　　　　　 ■多品種少量基板の検査 専用治具製作コスト不要です。ファンクションテストでは不良個所の特定が難しいですが、インサーキットテストであれば特定可能です。 ■試作基板の検査 設計変更に即応できます。基板に電圧を印加し、回路動作（ON/OFF）の確認や直流電流の測定など、ファンクションテストも可能です。 ■機種切り替え時の実装確認検査 ファーストロットのマウントプログラムの確認や、機種切り替え時のマウンタへの部品セット間違いの確認を確実に短時間で行えます。 ■不良解析検査 機能検査で不良になった基板の検査や、市場で故障した基板の不良解析に使用可能です。修理時間の大幅な短縮と、廃棄基板の削減ができます。 他にも、様々なご用途でタカヤのテスタをご活用いただいている実績がございます。 詳しくは営業担当までお問い合わせください。

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実装技術専門誌 エレクトロニクス実装技術 特集記事公開

実装技術専門誌 エレクトロニクス実装技術 特集記事公開

国内唯一の実装技術専門誌『エレクトロニクス実装技術』に掲載された特集記事の公開許可を頂きました。こちらよりご覧いただけます。

特集内容 　■ＢＧＡ実装基板検査の最新動向 　　フライングプローブテスタとＪＴＡＧテストのハイブリッド検査 　　　アンドールシステムサポート株式会社　／　谷口　正純 氏 　　　タカヤ株式会社　／　柳田　幸輝 概要 BGA（Ball Grid Array）部品は、民生品から産業機器、近年では車載機器まで、あらゆる電子機器に使用されるようになった。一方でBGA部品が実装された基板（以下、BGA実装基板と呼ぶ）を確実に検査する方法は確立されていない。これはどのような検査手法にもメリットとデメリットが存在し、1つの検査手法のみで完全なテストを行うことはできないためである。したがって現在、多くの企業でBGA実装基板の検査が課題となっている。今回はそれに対する1つの解として、フライングプローブテスタとJTAG（ジェイタグ）バウンダリスキャンを組み合わせたハイブリッド検査についての最新の技術動向を紹介する。 1，はじめに 2，BGA実装基板の検査と課題 3，電気検査の可能性 4，インサーキットテスト 5，JTAGバウンダリスキャンテスト 6，ハイブリッドテスト 7，まとめ

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フライングプローブテスタ APT-T400J

フライングプローブテスタ APT-T400J

【JPCA Show2026出展】高速・高精度・低コストを実現する新型フライングプローブテスタ「APT-T400Jシリーズ」

タカヤ株式会社は、実装基板の様々な不良を確実に検出する超高速検査を可能にする新モデル「APT-T400Jシリーズ」を発表しました。本モデルは、これまでの高精度なプロービング技術と安定した測定性能を継承しながら、より導入しやすい価格帯を実現したスタンダードモデルです。多様化する製造現場のニーズに応えるべく、検査の信頼性と効率を高める各種技術を搭載しています。 電子機器の高密度化・多機能化が進む中、実装基板の検査には従来以上の精度と信頼性が求められています。一方で、製造現場では人手不足やコスト削減といった課題が顕在化し、高性能でありながら導入しやすい検査装置へのニーズが急速に高まっています。こうした状況を踏まえ、タカヤは長年培ってきたフライングプローブテスト技術をベースに、より幅広い現場で活用できるスタンダードモデルとして 「APT-T400Jシリーズ」 を開発しました。検査品質を妥協することなく、導入のハードルを下げることで、より幅広い製造現場の課題解決に貢献します。

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インサーキットテスト最速！フライングプローブテスタの導入効果

インサーキットテスト最速！フライングプローブテスタの導入効果

タカヤAPTシリーズは、業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。その導入効果を紹介します。

■ 品質の向上 外観検査やファンクション検査では検出が難しい不良を検出し、テスト結果と集計データから実装工程全体の品質を改善できます。微小チップ部品やファインピッチIC/コネクタにもピンコンタクト可能ですので、高密度基板の検査でも、治具検査に比べて検出率が大幅に向上します。 ■ 検査コスト削減 高額な専用検査治具を必要とせず、試作基板や少量/中量生産基板において大幅に検査コストを削減します。設計変更があった際にも、治具の改造費用は不要です。 ■ 不良解析時間の短縮 不良箇所が特定できるため（基板画像に不良箇所を表示）、不良解析や部品交換作業が容易になり、修理時間を大幅に短縮します。 ■ トレーサビリティ管理 部品の測定値や検査日時などを基板検査毎に保存し、品質管理の資料として手軽に検索や編集ができます。 ■ ライン稼働時間の短縮 量産開始までの待ち時間を大幅に短縮し、実装工程の稼働率を向上します。LCRメーター測定や目視検査によるオペレーターの負担を軽減し、ヒューマンエラーを排除します。 より詳しい情報については営業担当までお問い合わせください。

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デュアルサイドフライングプローブテスタ APT-2600FD

デュアルサイドフライングプローブテスタ APT-2600FD

基板製造に新たな革新。生産効率と検査精度の向上を実現！

APT-2600FD は上下のフライングプローブを同時使用した、最大6プロープのコンビネーション検査が行える 次世代のデュアルサイドフライングプローブテスタです。 テストカバレッジ向上と共に、基板反転動作による製品破損リスクを軽減し、検査時間も大幅に短縮します。 高機能な測定システムと多彩な機能を備え、試作から量産までの品質向上に貢献します。 岡山本社/東京支店のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストを承ります。 検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。 2025年7月31日（木）、東京都千代田区大手町の経団連会館にて開催された 「第55回 機械工業デザイン賞 IDEA」贈賞式において、 本製品が「日刊工業新聞創刊110周年記念賞」を受賞いたしました。 審査委員より「検査効率と信頼性を両立した設計思想が素晴らしい」との講評をいただき、 当社の技術力と製品デザイン力が広く認められる機会となりました。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。

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【導入事例】初回確認、ライン切り替え時の確認検査

【導入事例】初回確認、ライン切り替え時の確認検査

両面テープを貼付した試し打ち基板や、実装スタート直後の実装基板初回検査を自動化できます

プリント基板の部品実装工程において、機種切り替え時のマウンタ装置における部品セット間違い/実装プログラム間違いによるミスは、発見が遅れるとロット単位での不良（ロットアウト）となり、大損失につながります。 この様なミスを防ぐために、両面テープを貼ったベアボードの上に部品を仮実装し、一つ一つをLCRメータで測定/目視照合検査をされるケースがあります。 この検査は「一号機チェック」「段取り替えチェック」「試し打ち検査」と呼ばれますが、検査が終わるまではライン停止させなければならず時間がかかるため、ライン稼働率が下がる要因となってしまいます。 また、高密度に実装された基板上で、細かい部品をすべて手作業確認する場合、人的ミスを完全に無くすことは難しいです。 弊社では、この作業をより簡単かつ楽に行っていただける方法として、フライングプローブテスタによる自動検査をおすすめしております。ライン切り替え後の確認作業を正確かつ短時間に行うことが可能です。 実装機の切り替え時間短縮による稼働率向上・人件費の削減・不良品発生リスク低減を考えられているお客様はぜひ導入をご検討ください。

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フライングプローブテスタ FA1816

フライングプローブテスタ FA1816

プリント基板検査装置「容量測定方式」モデルのトップシェア

高密度プリント配線版の潜在不良を逃さず検出。静電容量測定方式による高速検査を実現。従来の抵抗検査に比べて、最小ステップ数で検査が可能です。そのため検査が短時間ですみます。 さらに、操作性が格段に向上。必要な情報を一画面に集約し、グラフィカルな画面とワークフローメニューによる検査データ作成のため操作が簡単です。マスターデータ作成はボタンひとつで自動生成されるため、操作時間が短縮され、オペレータの負担が軽減されます。

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インサーキットテスト　フライングプローブテスタ FA1240

インサーキットテスト　フライングプローブテスタ FA1240

治具レスによりランニングコスト・データ作成時間を激減させるインサーキットテスタ　不良ビューワが画像検査のように不良個所を指示

治具制作が不要のフライングプローブタイプのインサーキットテスタ 接触不良による疑似エラーを減らし、ワンパス率を改善します。 ・少量多品種検査に適した、高速・高精度・高信頼性の実装基板検査機です。4 端子測定機能によりIC リードの足浮きはもちろんのこと、電気的に導通のある疑似接触検出が可能です。 ・さらに従来の検査では難しかった、FET、リレー、3端子レギュレータのアクティブ検査を可能としました。オプション検査で、簡易ファンクション測定、バウンダリスキャン計測、水晶発振器の周波数測定なども可能です。

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フライングプローブテスタの特殊カスタム対応も承ります

フライングプローブテスタの特殊カスタム対応も承ります

最大30kgの大型重量基板を自動搬送できるオリジナルのユニットを製作。特殊仕様の製作もお任せください。

タカヤでは、お客様の多様なニーズにお応えするため フライングプローブテスタの特殊カスタム対応も承っております。 一例ですが「最大30kgの大型・重量基板を自動搬送したい」というご要望にお応えするため 専用の自動搬送ユニットを製作致しました。 人力では持ち運び困難な非常に重たい基板も 安全・正確にハンドリング頂けます。 また、インサーキットテストと並行して特殊な検査を行うため テスタ本体内に特殊検査装置を納めるスペースを設けるなど、 柔軟なカスタマイズを行うことが可能です。 標準規格に収まらないような特殊製品の検査でも、カスタム対応で解決させていただきます。 まずは一度、営業担当までご相談ください。

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【導入事例】ライティング（LED照明）向け基板検査

【導入事例】ライティング（LED照明）向け基板検査

ライティング（LED照明）向け基板検査に、タカヤのフライングプローブテスタを活用ください。

カラーセンサーを活用した自動検査により、目視検査の限界を克服し、品質安定化と効率化を実現します。自動化により作業者の負担を軽減し、一貫性のある検査基準を確立することで、製品の信頼性向上とコスト削減を両立します。 【導入実績】 ・目視検査から自動検査への移行を実施。 ・カラーセンサーを用いた精密な自動検査で、品質の安定化を達成。 【お客様がかかえられていた課題】 作業者の負担: 目視検査では作業者のスキルや経験に依存するため、長時間作業に伴う疲労や集中力低下が問題。 作業者の負担が増大すると、検査精度が低下するリスクが高まる。 判定基準のばらつき: 目視検査では、人による主観的な判定が混在し、品質基準にばらつきが生じる。 一貫性のない判定が、不良品の流出や過剰検査を引き起こす原因となる。 LED特性の確認難易度: LEDの色味や輝度など、微細な特性の判定が目視では困難。 正確な数値基準に基づく検査が求められる。

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欧州電子業界雑誌「EPP」特集記事のご紹介

欧州電子業界雑誌「EPP」特集記事のご紹介

欧州電子業界雑誌「EPP」に タカヤフライングプローブテスタの特集記事を掲載いただきました。

2023年10月に発行されました欧州の電子業界雑誌「EPP」に、タカヤ フライングプローブテスタの紹介記事を掲載頂きました。 タカヤ株式会社および欧州代理店のシステック・ヨーロッパ社は、ドイツ シーメンス社様と長年にわたるパートナーシップを結んでおります。 シーメンス社様の世界フラッグシップ工場「SIEMENS Karlsruhe」では、現在12台のタカヤ フライングプローブテスタが稼働しており、実装基板の信頼性を確保しています。 APT-1600FD-Aの両面同時検査、新ソフトウェアによる検査プログラムの自動セットアップ、自律型搬送システムAMR（Autonomous Mobile Robot）を用いた基板の自動搬送によって 5日/24時間の完全無人検査を実現されています。 また、OPC UAなどの最新インターフェース規格に対応しており、MESシステムとの連携はもちろんのこと 稼働率のモニタリング・不良統計に基づいた検査プログラム自動切り替え環境を構築されております。 関連リンク、ダウンロードページより是非ご覧ください。

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【導入事例】EMS企業における電気検査の重要性

【導入事例】EMS企業における電気検査の重要性

EMS企業様が抱える課題をタカヤのフライングプローブテスタが解決します。

【EMS企業様への導入実績】 ・基板の試作段階から電気的な検査を行うことで、量産前の品質保証を実現。 ・基板設計や部品選定の最適化を早期に行い、後工程での不良削減に寄与。 【お客様がかかえられていた課題】 治具の再作成コスト: 治具式テスタでは、試作や設計変更のたびに専用の治具を再作成する必要がある。 設計変更のたびに治具の修正が求められ、コストや時間が大幅に増加していた。 設計変更への対応力不足: 従来の検査方法では柔軟な設計変更対応が難しい。 リードタイムが長く、試作段階での迅速な検証が難しい場合があった。

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世界で活躍するタカヤフライングプローブテスタの歴史を紹介します

世界で活躍するタカヤフライングプローブテスタの歴史を紹介します

46か国以上の国々でグローバルEMS企業やメーカーに導入多数！！

タカヤは、フライングプローブテスタにおいて世界トップシェアを誇る実装基板検査機業界のリーディングカンパニーです。 1987年に、世界初のフライングプローブテスタを開発後、翌1988年にはドイツでの技術展示会に出品。現地の電機業界より高評価を受け、欧州市場での拡販をスタートさせました。 1990年には、同じ工業先進国であるアメリカでの販売を開始。1995年には、世界で最も革新的な検査機に贈られる賞　『TEST INNOVATION OF THE YEAR』　を受賞するなど、その性能を広く世界中で認められております。 現在も、アメリカ・ヨーロッパ・中国・東南アジア各地に販売/サービス拠点を設置、46か国以上の国々にて多数の販売実績がございます。様々なメーカーからの高いご要求に応えるべく、新たなモデル/画期的な新機能を日々追加し、販売網も拡大し続けております。 実装基板の電気検査でお困りのことがありましたら、ぜひタカヤへお問い合わせください。

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  • フライングプローブテスタ

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第38回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会 発表資料公開

第38回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会 発表資料公開

第38回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会 発表資料を公開しています。

第38回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会は、2024年3月13日（水）～ 15日（金）に 東京理科大学 野田キャンパスにて開催されました。 当講演大会にて、タカヤ株式会社 産業機器事業部 技術部長 柳田 が、「JTAG検査とフライングプローブテスタを組み合わせたハイブリッド検査システムの最新動向」の講演発表を行いました。 その際の発表資料を公開しましたので、下記、関連カタログのページより是非ご覧ください。 -------- 内容　-------- 実装基板の、確実な実装保証を行うためには、電気試験が不可欠です。しかし、1つの検査手法だけでは十分なテストカバレッジを得られません。この課題を解決するために、フライングプローブテスタとJTAGバウンダリスキャンテストを連携したハイブリッド検査システムをご紹介します。それぞれの検査手法の相互補完によって、高密度実装基板のテストカバレッジを最大限拡大でき、より正確な故障診断が可能になります。

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【展示会】第37回ネプコンジャパン 出展製品のご紹介

【展示会】第37回ネプコンジャパン 出展製品のご紹介

【出展パネル公開】超高速検査で実装基板の不良を検出するフライングプローブテスタ（基板検査装置）・業務改革に貢献するRFID製品

2023年1月25日（水）～27日（金）に　東京ビッグサイトで開催されました「第37回　インターネプコン ジャパン」にて、弊社ブースにお越しいただいた皆様、ありがとうございました。 今回出展製品の資料・展示パネルを公開しております。期間中 会場にお越しいただけなかった方も、当ページより登録いただければ資料を閲覧頂けますので是非、ご活用ください。 今回、産業機器事業部では アンドールシステムサポート株式会社様の共同で、フライングプローブテスタによるバウンダリスキャンテストのデモを実施したこともあり、大変多くのお客様にご興味を持っていただくことができたことを嬉しく思っております。 また、今回が初となる産業機器事業部・RF事業部のコラボ出展で、たくさんの方々に弊社製品を知っていただけたのではないかと思います。 今後もタカヤ株式会社はお客様のご期待に応えられるよう、精一杯努力してまいります。これからもご愛顧賜りますよう何卒よろしくお願い申し上げます。

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【展示会】第40回ネプコン ジャパン 出展のご報告

【展示会】第40回ネプコン ジャパン 出展のご報告

東京ビッグサイトにて開催された、「第40回[東京]ネプコン ジャパン　エレクトロニクス製造・実装展」へ出展いたしました。

会期中には、ネプコンジャパン40thの記念パーティへご招待いただき、長期連続出展の表彰を賜りました。 これもひとえに、日頃よりご支援・ご高配を賜っている皆様のおかげと、心より感謝申し上げます。 今回は 産業機器事業部・RF事業部・ソリューション事業部・EMS事業部の4事業部が初めて合同で出展し、 基板検査・RFID・ソフトウェア・受託製造など、開発〜量産を一気通貫で支援できるトータルソリューションをご紹介いたしました。 「既存設備の更新」「検査工程の効率化」「生産ラインの自動化」「EMSの外注化」などのご興味のある企業様は、ぜひお気軽にお問い合わせください。 貴社のものづくりに最適なソリューションをご提案いたします。

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欧州業界紙 PRODUCTRONIC にて紹介いただきました！！

欧州業界紙 PRODUCTRONIC にて紹介いただきました！！

46か国以上の国々でグローバルEMS企業やメーカーに導入多数！！世界で高評価を得ているタカヤのフライングプローブテスタです。

欧州で発行されている実装業界の情報誌「PRODUCTRONIC 2021」2月号に、大手センサーメーカーでの弊社テスタ導入記事を掲載いただきました。 こちらのメーカーでは、年間約1,000万枚のプリント基板と8億個の部品を取り扱っており、タカヤのフライングプローブテスタを約20年前からご使用いただいています。今回は、最新モデルのAPT-1600FDシリーズを導入いただいた際のコメントです。 基板実装工程の後に直接でインサーキットテストを実施されており、エラーを非常に早く、確実に検出することができる点、また、開発中にアセンブリの内容が変更されても、プログラムの修正だけで簡単に検査を変更することができる点で高評価を頂きました。 治具作成が不要になることで費用対効果も高まるとともに、治具式テスタ使用時にに比べて、約2～2.5倍の検査速度を実現されたとのことです。 日本のみならず、世界各国のあらゆる企業・業界で認められたタカヤのフライングプローブテスタを是非、ご活用ください。 ＊詳細情報は、下記関連リンクページをご覧ください。

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フライングプローブ・ボードテスタ　FA1816　Cテスタ

フライングプローブ・ボードテスタ　FA1816　Cテスタ

Max.100回/秒の驚異の高速検査

容量検査方式による高速パターン検査装置です。 2018最新モデル　フライングプローブテスタ　FA1816 弊社HPを要チェック！

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フライングプローブテスター

フライングプローブテスター

seica社の高性能フライングプローブテスター

PCB検査、水平／垂直システム、両面プロービング可能。 バッテリーメーカー採用のEVバッテリーテストシステム。

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フライングプローブテスタ APT-2400F / 2600FD

フライングプローブテスタ APT-2400F / 2600FD

【エレクトロニクス実装学会 2025年度 技術賞 受賞！】【第55回 機械工業デザイン賞 IDEA 受賞！】

タカヤ株式会社は、超高速検査で実装基板の様々な不良を確実に検出する フライングプローブテスタの新モデル「APT-2400F/APT-2600FDシリーズ」を発表しました。 微細な部品配置や接続を高精度にチェックできる 最先端クラスの検査技術を搭載し、 わずかな不良やリスクも見逃さず、製品の品質向上を強力にサポートします。 また、当社独自の制御機構とセンシング技術により、 変動しやすい環境下でも信頼性の高い検査を実現し、 リコールリスクの低減といった品質管理への貢献が期待できます。 さらに、誰でも直感的に操作できるユーザーフレンドリーなインターフェースを採用、 特に労働力不足が深刻化する現場において 負担軽減を図りながらも 高い検査精度を確保でき、生産性の向上に寄与します。 ※詳しくはPDF資料をダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせください。

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【導入事例】治具式インサーキットテスタからの置き換え

【導入事例】治具式インサーキットテスタからの置き換え

治具作成不要でランニングコストを90％以上削減！！

治具式（プレス式）テスタからの置き換えで、フライングプローブテスタを導入いただいた事例をご紹介します。 ＊課題 ・高密度実装基板の場合、狭い部分は治具の作成が困難なため治具式テスタでは検査できない部品があった。 ・量産終了後の保守パーツなど少数生産の場合、治具代が割高になり、メンテナンス含めたコスト面の負担が増えていた。 ・治具保管スペースの確保が必要で、管理の手間もかかっていた。 ＊導入効果 ・治具式ではできなかった狭ピッチ間部品が検査でき、信頼性を高められた。 ・治具の製作が不要となり、メンテナンスなどのランニングコストも発生しなくなった。 ・治具保管用の倉庫スペースも不要となり、管理の手間がなくなった。 フライングプローブテスタの詳細につきましては、PDFカタログをダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせください。

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