1～6 件を表示 ／ 全 6 件
ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現！
「ラインスキャン膜厚計(インラインタイプ)」は、インラインでの フィルム生産現場においてフィルムの膜厚を全幅・全長測定できる装置です。 独自の分光干渉法に新たに開発した高精度膜厚演算処理技術を組み合わせる ことで、最短0.001秒毎の測定間隔で500mm幅(1台使用時)のフィルムの 膜厚測定が可能。 また、膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポートや、バタつきに 強い光学系を採用しているなどといった特長が備わっています。 【特長】 ■ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現 ■膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポート ■高速・高精度に測定が可能 ■バタつきに強い光学系を採用 ■幅広のサンプル(TD方向に最大10m測定可能) ■ハード・ソフト共にオリジナル設計 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
全面を高速かつ高精度に膜厚測定可能！
「ラインスキャン膜厚計(オフライン)」は、フィルムなどの研究開発や 品質管理の抜き取り検査に、オフラインで簡単に面内膜厚ムラ検査が可能な 装置です。 フィルムなどの面内膜厚ムラを検査することができ、全面を高速かつ高精度 に測定可能。 また、測定範囲は0.1～300μmで、測定幅は250mm。ハード・ソフト共に オリジナル設計となっております。 【特長】 ■フィルムなどの面内膜厚ムラを検査可能 ■全面を高速かつ高精度に測定可能 ■膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポート ■分光測定による高精度な膜厚測定 ■ハード・ソフト共にオリジナル設計 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
ウェーハ基板上の薄膜を「抜け」なく全面測定！
半導体業界では、ウェーハ基板上の薄膜の正確な膜厚測定が、製品の品質管理と歩留まり向上に不可欠です。特に、微細化が進む半導体製造においては、薄膜のわずかな厚さの差異が、デバイスの性能に大きな影響を与えるため、高精度な測定が求められます。ラインスキャン膜厚計は、独自の分光干渉法と高精度膜厚演算処理技術を組み合わせることで、12inchウェーハの面内分布を高速に測定し、課題を解決します。 【活用シーン】 ・半導体ウェーハの製造工程における膜厚測定 ・研究開発における薄膜特性評価 ・品質管理における膜厚の均一性評価 【導入の効果】 ・ウェーハの面内膜厚分布を可視化し、製造プロセスの最適化に貢献 ・不良品の早期発見による歩留まり向上 ・研究開発におけるデータ取得の効率化
ラインスキャン方式でディスプレイの膜厚を均一に測定！
ディスプレイ業界では、製品の品質を左右する薄膜の均一性が重要です。特に、色ムラや輝度ムラを防ぐためには、薄膜の膜厚を正確に測定し、均一性を確保する必要があります。不均一な膜厚は、表示品質の低下につながる可能性があります。当社のラインスキャン膜厚計は、ラインスキャン方式を採用し、ウェーハ基板上の薄膜を全面測定することで、膜厚の均一性を評価できます。 【活用シーン】 ・ディスプレイ製造における薄膜の膜厚測定 ・色ムラ、輝度ムラの改善 ・品質管理 【導入の効果】 ・膜厚の均一性評価による品質向上 ・不良品の削減 ・製造プロセスの最適化
ラインスキャン方式で、コーティング膜厚を逃さず検査。
コーティング業界では、製品の品質を維持するために、塗膜の厚さ管理が重要です。膜厚の不均一は、製品の性能劣化や外観不良につながる可能性があります。特に、インラインでのフィルム生産においては、膜厚をリアルタイムで正確に測定し、管理することが求められます。ラインスキャン膜厚計は、ラインスキャン方式を採用し、フィルムの膜厚を全幅・全長にわたって測定できます。 【活用シーン】 * フィルム製造ライン * コーティング工程における膜厚管理 * 品質管理部門での検査 【導入の効果】 * 膜厚の均一性を確保 * 不良品の発生を抑制 * 生産効率の向上
ラインスキャン方式でフィルムの膜厚を均一に測定
フィルム業界では、製品の品質を左右する膜厚の均一性が重要です。特に、光学フィルムや機能性フィルムなど、用途によっては膜厚のわずかな差異が製品の性能に大きな影響を与えることがあります。膜厚の不均一は、製品の強度低下や光学特性の劣化につながる可能性があります。当社のラインスキャン膜厚計は、インラインでのフィルム生産現場においてフィルムの膜厚を全幅・全長測定できる装置です。 【活用シーン】 * 光学フィルムの製造工程 * 機能性フィルムの膜厚測定 * 包装フィルムの品質管理 【導入の効果】 * フィルムの品質向上 * 不良品の削減 * 生産効率の改善
