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レーザーダイオードの特性を半自動で測定可能な、研究開発用途のデスクトップ型のLDテストシステムです。
研究用のデスクトップタイプのLDテストシステムです。 ＜特長＞ ■ LDの形状によって専用治具を用意可能です。 ■ 測定項目(フロントLIV、λ特性、FFP H,V)を指定温度環境下で1素子を自動 測定可能です。 ■ 長波長(1200-1650nm)向けLD342Lと短波長(400-980nm)向けLD342Sがあ ります。 ■ 低温(-40°C~+100°C)までのLTと常温(20°C~+100°C)までのNTの選択肢が 可能です。 ■ 集光レンズ方式の採用で波長測定の調芯を不要にしました。
通信用LDをターゲットに効率的な構成を実現！LDチップをグリッピング状態で収納でき高速に自動で測定可能。
本装置は長波長(光通信用)レーザーダイオードのベアチップ状態での電気特性、光学特性を高速に自動に測定・選別するLDテストシステムです。 ＜特長＞ ■ ブルーシートに貼りつけたLDチップをグリップリング状態のまま供給か ら測定・分類級までを高速で全自動搬送します。 ■ 測定項目(フロント/バック LIV、λ特性)を2温度環境下で標準項目として測 定可能。 ■ -40°C~+95°Cまでの任意の温度で測定選別が可能。 ■ FRONT光、BACK光の同時にIL測定が可能。 ■ チップの位置決め方法としてSHゲージング方式を採用。 ■ 集光レンズ方式の採用で波長測定の調心時間をゼロにしました。 ■ 最大13台のカメラで各ポジションでのLDチップの有無、状態をモニタリング。 運転状況の把握、各部の調整が容易に可能。 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
I-L/I-V測定やFFP(Far Field Pattern)測定、偏光比測定などを行えます
福興システムの取り扱う『レーザーダイオードテストシステム』について ご紹介します。 当製品は、I-L/I-V測定をはじめ、Spectrum測定や FFP(Far Field Pattern)測定、偏光比測定などを行うことが可能。 操作はメニュー方式による対話型となります。 また、表示部は5.6インチLCDとなっております。 【以下の測定が可能】 (1) I-L/I-V測定 (2) FFP (Far Field Pattern)測定 (3) Spectrum測定 ※光スペクトラムアナライザが必要 (4) 偏光比測定 (5) (1)～(4)の温度依存性評価 (6) (2)、(3)、(4)の光出力/駆動電流依存性評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
通信用LDをターゲットに効率的な構成を実現！LDチップをグリッピング状態で収納できます。
長波長レーザーダイオードのベアチップ状態での電気特性、光学特性を高速に自動に測定・選別するＬＤテストシステムです。 ＜特長＞ ■ 供給から測定・分類などを全自動搬送できます ■ 最大13台のカメラにより運転状況の把握が容易です ■ +２０℃～-１００℃まで任意の温度で測定可能です ■FRONT光、BACK光のIL測定を同時に行います。 詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
