光コンポーネントテスタ 「CT400」
波長精度：+/-5pm 波長分解能：1pm
Mux/Demux、フィルタ、スプリッタ、ROADM、WSS等の光パッシブコンポーネント、モジュール等の特性を評価するテスタです。測定波長レンジは、1260-1650nmです。リアルタイムで測定でき、特に挿入損失の測定に優れています。 【特徴】 ○波長精度：+/-5pm ○波長分解能：1pm 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。 ※こちらのカタログは英語のカタログになります。
光コンポーネントテスタ - メーカー・企業と製品の一覧
光コンポーネントテスタの製品一覧
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光コンポーネントテスタ『CTP10』
光パッシブ部品を24時間365日テストするためのモジュール式測定プラットフォーム！
『CTP10』は、光集積回路や光パッシブ部品のIL/RL/PDL測定評価用 プラットフォームです。 チューナブルレーザ(T100S-HP)との組み合わせで高精度の掃引IL/RL/PDL測定を 提供、モジュール式の為、自由度の高い測定環境を構成できます。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■波長範囲：1240-1680 nm ■ダイナミックレンジ：一回の掃引で70 dB ■IL解像度：0.0001 dB ■プラットフォーム毎に最大50の検出器 ■波長精度：±5 pm ■サンプリング分解能：1 pm @掃引速度100 nm/s ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：セブンシックス株式会社
- 価格：応相談
光コンポーネントテスタ『CTP10』
波長範囲は、1240-1680nm！一回の掃引で70dBのダイナミックレンジ
『CTP10』は、光集積回路や光パッシブ部品のIL/RL/PDL測定評価用 プラットフォームです。 チューナブルレーザ(T100S-HP)との組み合わせで高精度の掃引IL/RL/PDL 測定を提供、モジュール式の為、自由度の高い測定環境を構成可能。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■波長範囲：1240-1680nm ■ダイナミックレンジ：一回の掃引で70dB ■IL解像度：0.0001dB ■プラットフォーム毎に最大50の検出器 ■波長精度：±5pm ■サンプリング分解能：1pm@掃引速度100nm/s ※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：セブンシックス株式会社
- 価格：応相談
