光リンク診断システム - メーカー・企業と業務用製品 | イプロスものづくり

光ベクトル解析・光リンク診断システム OCI-V/OLI/OCI

シリコンフォトニクス・光デバイス向けの高精度光計測装置シリーズ！

『OCI-V/OLI/OCI』は、挿入損失・分散・偏波特性の測定から、 微小欠陥の位置特定までを一括してカバーする高精度光計測システムです。 光の性質を多角的に解析する光ベクトル解析システム「OCI-V」や、 障害を高精度に診断する「OLI」「OCI」をご用意。 研究開発から製造検査までを高速・高精度にサポートします。 【OCIの主な特長】 ■OFDR技術による高精度測定 ■イベントポイント位置特定精度：最大0.1mm ■1525～1625nmまたは1265～1340nm ■セルフキャリブレーション機能 ■高い測定安定性 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。