シリコンフォトニクス・光デバイス向けの高精度光計測装置シリーズ！
『OCI-V/OLI/OCI』は、挿入損失・分散・偏波特性の測定から、 微小欠陥の位置特定までを一括してカバーする高精度光計測システムです。 光の性質を多角的に解析する光ベクトル解析システム「OCI-V」や、 障害を高精度に診断する「OLI」「OCI」をご用意。 研究開発から製造検査までを高速・高精度にサポートします。 【OCIの主な特長】 ■OFDR技術による高精度測定 ■イベントポイント位置特定精度：最大0.1mm ■1525～1625nmまたは1265～1340nm ■セルフキャリブレーション機能 ■高い測定安定性 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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基本情報
【OCI-Vの主な特長】 ■高精度光特性測定 ■高速測定：主要光パラメータを1秒以内で取得 ■広い波長範囲：C＋Lバンド/Oバンド対応 ■高い測定安定性 ■長距離測定：最大200m ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
用途／実績例
【OLIのアプリケーション例】 ■シリコンフォトニクス(SiPh)デバイス検査 ■フォトニック集積回路(PIC)導波路検査 ■PLC(Planar Lightwave Circuit)導波路検査 ■光ファイバーリンク欠陥検出 ■光デバイス品質評価 ■光通信デバイスの故障解析 ■光リンクトラブルシューティング ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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企業情報
日本レーザーは1968年の創業より、レーザー専門商社の草分けとして、お客様に支えられながら、レーザー技術の進歩と共に歩んで来た日本で最古・最大のレーザー及び光関連製品の専門企業です。 従業員数の1割強をエンジニアに割いており、技術色の強みを持つ商社です。 米・英・独・仏・スイス・デンマーク・リトアニアなど世界各国の優れたレーザー製品、光関連製品を提供いたしております。各国のトップクラスのメーカーと代理店契約を締結しており、現在の海外取引先数は約50社になります。また当社は、世界より集めたレーザー関連機器を独自に組み上げ、応用システムとして販売提供が可能です。商社でありながらファブレスメーカー的なサービスも提供可能です。お客様の要求に感謝の気持ちを持って、常に柔軟でアグレッシブなソリューションを提供してまいります。
