多角度測定での動的光散乱測定
後方・側方・前方の3角度での動的光散乱測定で分離能を向上
通常の動的光散乱測定では後方か側方のいずれか1方向の散乱角度で測定を行い、粒子径を求めますが、多角度測定では後方・側方・前方の3角度で動的光散乱測定を行います。各角度で測定した散乱光強度の自己相関関数に対して最適解となる粒子径分布を解析します。これにより、1角度での粒子径分布解析では困難であった隣接した粒子径分布の分離能が向上し、粒子径分布の分離が可能になります。
- 企業:大塚電子株式会社
- 価格:応相談
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後方・側方・前方の3角度での動的光散乱測定で分離能を向上
通常の動的光散乱測定では後方か側方のいずれか1方向の散乱角度で測定を行い、粒子径を求めますが、多角度測定では後方・側方・前方の3角度で動的光散乱測定を行います。各角度で測定した散乱光強度の自己相関関数に対して最適解となる粒子径分布を解析します。これにより、1角度での粒子径分布解析では困難であった隣接した粒子径分布の分離能が向上し、粒子径分布の分離が可能になります。