【初回測定無料キャンペーン】分光エリプソメーター Auto SE
Auto SEによる膜厚・光学定数測定 初回3サンプルまで無料で実施！！
■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■ 11月中にお申込いただいたお客様限定！！ Auto SEによる分光エリプソメトリ測定(膜厚・光学定数測定)を 初回3サンプルまで無償で測定を実施いたします。 ■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■ 新規開発の光学モデルによりDLCの膜質評価を非破壊・非接触で行います。 各種製法により成膜された水素を含有するDLCから、水素フリーDLCまで瞬時に非破壊測定を行い、膜厚・光学定数(屈折率・消衰係数)の算出ができます。 簡単な操作で、1nm～15μmの膜厚範囲の単層膜から多層膜までのサンプル測定が可能です。 XYZ電動ステージによる面分析や、100μm以下の微小エリアの測定ができます。 イメージングシステムにより、サンプル表面状態や測定スポットの厳密な位置確認が可能です。 【詳しくはカタログダウンロード、またはお気軽にお問い合わせください】
- 企業：ナノテック株式会社
- 価格：応相談
