Auto SEによる膜厚・光学定数測定 初回3サンプルまで無料で実施！！
■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■ 11月中にお申込いただいたお客様限定！！ Auto SEによる分光エリプソメトリ測定(膜厚・光学定数測定)を 初回3サンプルまで無償で測定を実施いたします。 ■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■ 新規開発の光学モデルによりDLCの膜質評価を非破壊・非接触で行います。 各種製法により成膜された水素を含有するDLCから、水素フリーDLCまで瞬時に非破壊測定を行い、膜厚・光学定数(屈折率・消衰係数)の算出ができます。 簡単な操作で、1nm～15μmの膜厚範囲の単層膜から多層膜までのサンプル測定が可能です。 XYZ電動ステージによる面分析や、100μm以下の微小エリアの測定ができます。 イメージングシステムにより、サンプル表面状態や測定スポットの厳密な位置確認が可能です。 【詳しくはカタログダウンロード、またはお気軽にお問い合わせください】
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基本情報
【主な特長】 ・薄膜の膜質、光学定数(屈折率・消衰係数)などの物質特性を精度良く測定 ・波長450-1,000nmをカバー ・非破壊＆非接触で測定 ・誘電体や有機薄膜など様々な材料の測定が可能 ・イメージングシステムにより、サンプル表面の状態や測定スポットの確認が可能 ◇◆初回3サンプルまで無償で測定！◆◇ 11月中にお申込いただいたお客様限定で、Auto SEによる分光エリプソメトリ測定(膜厚・光学定数測定)を初回3サンプルまで無償で測定を実施いたします。 【詳しくはカタログダウンロード、またはお気軽にお問い合わせください】
価格情報
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納期
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用途／実績例
・DLC膜の品質管理 ・薄膜の非破壊、非接触測定(面分析、微小エリアの測定) ・薄膜の膜厚、光学定数（屈折率、消衰係数）など特性の測定
詳細情報
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イメージングシステムによる測定位置の確認 イメージングシステム
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企業情報
私共は平成元年に「プラズマ」と「真空」の技術に夢を追いかけナノテック株式会社を設立致しました。現在これらの技術を用いて、DLC（ダイヤモンドライクカーボン）を始めとしたコーティング技術の開発を行っております。DLCコーティング技術の多くはドリル、金型、機械部品などへ応用され、産業の「縁の下の力持ち」的な技術とも言えます。日本が「技術立国」として成り立っているのは、このような表面には出ない素晴らしいテクノロジーが存在し、高性能、高品質の製品が生み出されるからと考えます。ナノテックがお客様のニーズに長期間に渡り応えていくためには社内制度の充実がカギであり、ここで働く人たちの発想や行動こそが活気溢れる企業風土を作り、お客様への信頼のある対応につながると考えます。この環境を作り上げる事をなによりも大切なものとして現在取り組んでいます。