【中堅向け】半導体向けDC計測：オープンショート・リークテスト
「LabVIEW」を使用した半導体テストプログラムの手引き・DC計測編
中堅エンジニア向けに、ものづくりの現場で役立つプログラミングの実践書をお届けします。 今回は、半導体のオープンショート・リークテストを行うプログラムの作り方です。 半導体メーカーのエンジニアを悩ませる、検査速度と検査精度。 装置メーカーと検査速度・検査精度についてもっと突っ込んだ議論を行いたい！自分たちでカスタマイズしたい！という方へお奨めです。 このテキストでは、現場でも採用されている計測器と本物のフォトカプラをつかって、DCテストプログラムをつくる方法をお伝えします。 半導体に関わる方は要チェックです！
- 企業：株式会社ペリテック 神奈川エンジニアリングセンター、東京営業所、ベトナム事業所
- 価格：応相談
